发 帖  
经验: 积分:22
FAE 泰瑞达(上海)有限公司
上海市 浦东新区 测试测量
  • 0

    IC设计工程师 摩尔精英E课网
    前面一期的公众号文章“让你彻底理解DFT”帮助大家理解了DFT所解决的问题。一句话来概括之就是:借助特定的辅助性设计,产生高效率的结构性测试向量以检测生产制造过程中引入芯片中的各种物理缺陷。Scan就是此类辅助 ...
    来源:芯片测试与失效分析 标签: dft
ta 的专栏

成就与认可

  • 获得 0 次赞同

    获得 1 次收藏
关闭

站长推荐 上一条 /6 下一条

返回顶部