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发布了文章 2023-5-25 09:31

如何利用基于视觉的边缘设备优化晶圆制造

工业4.0、工业物联网或智能工厂—无论使用哪个术语，都指向相同的目标：提高工厂车间的效率、可靠性和信息安全和功能安全。恩智浦不仅设计和生产下一代工业4.0应用核心的创新芯片，而且还集成了工业4.0概念，旨在进一步提高工厂效率。这篇博文将向您...

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发布了文章 2023-5-25 09:30

面向工业边缘的机器学习和智能视觉

恩智浦通过 i.MX 8M plus应用帮助在边缘实现基于视觉的应用处理器通过集成两个MIPI CSI相机接口和双相机图像信号处理器（ISP），支持高达 12 万像素的分辨率，以及 2.3 TOPS 神经处理单元（NPU）来加速机...

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发布了文章 2023-5-25 09:27

RAIN RFID实现更智能汽车制造的三种方式

RAIN RFID 是向工业 4.0 过渡的重要组成部分，因为它让一切——零件、组件、容器、工具和成品产品 – 集成到自动化流程中制造工厂和供应链的每个环节。...

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发布了文章 2023-5-25 09:25

神经处理将实时决策带到边缘

神经网络模型效率的提高和高速神经网络加速器正在帮助机器学习转向边缘。恩智浦 i.MX 8M Plus就是一个很好的例子，它是我们EdgeVerse产品组合的新成员。它提供专用机器学习硬件 - 神经处理单元（NPU） - 可以即使在最...

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发布了文章 2023-5-25 09:23

为微型安全可编程逻辑控制器（PLC）系统添加安全性的方法

PLC是任何生产线的重要组成部分，随着我们深入第四次工业革命，更多互联网连接的传感器和系统与 PLC 接口。这使整个系统面临网络攻击难以预测，并可能导致整个系统故障，寿命危害和经济损失。为了缓解这种情况，设计师应该采取硬件和软件层...

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发布了文章 2023-5-25 09:21

需要设计高精度和高效率的变频器

恩智浦提供的解决方案包括电源、控制和HMI级。力量级整流电路由 i.MX RT1060 分频器高效管理 MCU和GD3100单通道栅极驱动器。电机反馈由 KMA221可编程角度传感器，又由MPU解码。这控制级包括 i.MX RT1060...

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发布了文章 2023-5-25 09:19

ABI对NFC标签的研究

鉴于这些趋势，ABI Research预测NFC渗透率智能手机将从66年的约2018%增加到更多。到 90 年超过 2023%。NFC读卡器几乎普遍可用，如作为支持NFC的智能手机的一部分，意味着品牌所有者可以安全地假设大多数消费者...

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发布了文章 2023-5-25 09:18

从蓝图到规模：物联网最终兑现承诺的四个原因

传感技术已经到了传感器超小的地步，极其节能和超级多功能，使其成为关键资产是物联网的核心。无论使用什么用例想象一下，我们已经达到了一种技术状态，任何物理信号我们的人类世界可以转换成电信号，然后转化为机器可处理的数字数据。无论是被监控...

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发布了文章 2023-5-25 09:16

智能制药剖析：用于患者参与和保护的物联网连接NFC标签

NFC标签还提供与云的直接链接，因此产品可以加入制药物联网（IoT）。通过点击产品包装支持NFC的智能手机，人们可以使用智能，物联网连接的NFC标签来访问从真实性检查到剂量信息、诊断的所有内容工具和供应链细节。...

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发布了文章 2023-5-25 09:14

NFC和RAIN RFID提高供应链可见性的十种方式

恩智浦结合传感NFC和RAIN RFID的新解决方案发布今年在AIPIA，整个供应链的完全可追溯性是可能。半无源 NTAG 智能传感器可监控温度，并且可以扩展到其他参数，如湿度、冲击、倾斜和振动通过低功率电池并通过NFC进行通信。通...

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发布了文章 2023-5-25 09:13

NFC帮助医疗保健的六种方式

这些只是NFC可以增强医疗保健的一些方式。随着行业继续采用该技术，我们可以期望NFC通过降低成本、提高效率和改善结果，在加强护理方面发挥重要作用 – 在医疗机构和家中。...

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发布了文章 2023-5-25 09:10

会说话的机器：工厂车间的NFC

智能制造设施的出现——有人称之为第四次工业革命，或工业4.0 - 正在创造一个新的工厂自动化水平，智能对象网络，独立工艺制造与频繁使用之间的相互作用真实和虚拟世界。这些趋势正在改变制造商的方式管理他们的生产网络，并使其能够在几乎...

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发布了文章 2023-5-24 18:17

EDA是设计安全系统的基础

随着物联网（IoT）设备的迅速普及和部署，各个层面都出现了安全风险。它可能在可用性级别，例如社会工程、借口、网络钓鱼;在原始级别，例如密码分析;在软件级别，例如客户端脚本、代码注入;现在甚至在硬件级别。在硬件运行过程中，我们经常看到侧信...

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发布了文章 2023-5-24 18:05

使用高速PCIe或USB接口提高测试性能并允许在现场进行测试

长期以来，IC测试的基本挑战一直保持不变。所有测试策略的核心是可控性和可观察性。首先，使用已知的测试向量控制芯片的状态，然后观察芯片以确定其行为是良好还是错误。多年来，已经有许多创新使所需的芯片测试更容易处理。得益于 EDA 社区的创新，可...

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发布了文章 2023-5-24 18:03

从设计到部署：芯片生命周期管理如何优化整个IC生命周期

SLM涉及半导体生态系统的所有阶段。它旨在收集有关芯片及其操作的大量数据，并使用复杂的分析来优化芯片及其整个生命周期部署系统的性能、安全性和效率。该技术可用于提高设计鲁棒性、减少设计裕量、提高电源效率并验证高可靠性应用的设计。虽然所有这些都...

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