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LUMINCHENG

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工程师西安君信

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中科集成电路培训资料验证设计【培训资料+习题+答案】
2018-3-26 14:30

wangka
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"珍贵的中科集成电路培训资料验证设计，参加培训的真实资料，有课件、有习题，经典不容错过。"
超完善的DFT学习资料
2018-3-26 14:28

wangka
强大的公司

"集成电路（Integrated Circuit，简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可 ..."
DFT工程师经典教程书籍
2018-3-26 14:25

wangka
强大的公司

"可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的 ..."
清华大学芯片测试讲义pdf
2018-3-26 13:42

wangka
强大的公司

"Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for ..."
IC测试原理——芯片测试原理
2018-3-26 11:15

wangka
强大的公司

"芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片测试的基本原理; 第二章讨论了怎么把这些基本原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上；本文 ..."

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