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张女士

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助理西安安泰测试设备有限公司

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发布了文章 2021-5-31 14:55

LCR数字电桥的高级测量功能

LCR数字电桥是电子工程师常用的测量仪器，在来料检验、PCB制作、失效分析等方面应用广泛。今天安泰测试给大家介绍一些数字电桥的高级测量功能，有利于更深入了解LCR数字电桥的功能、提高测试效率、节约人力和时间成本。...

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发布了文章 2021-5-28 10:50

利用示波器进行激光测距仪PD信号测试

近期，某客户咨询安泰测试，想要了解激光测距仪 PD 信号测试方案，需要实现发送 START 和回收STOP 信号的时序对比，要求示波器有更好的底噪以及更大的存储。...

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2548次阅读

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发布了文章 2021-5-28 10:30

吉时利源表2602B应用测试类型

激光二极管模组常常是配备了调制或衰减控制输入引脚，因而在LIV测试扫描中，可能需要加入2400型或2601型源表对衰减输入端施加偏置。...

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发布了文章 2021-5-27 10:57

示波器的波形存储格式

保存示波器的设置信息，方便工程师下一次的使用，避免重新设置的麻烦;它以“*.stp”格式存到本地闪存和外部存储器U盘中，可导入/导出任意示波器设置。...

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发布了文章 2021-5-26 11:31

泰克示波器在检测维修焊机的应用

近期，某特种加工工厂客户咨询使用泰克示波器进行焊机的维修检测。由于客户现有一台逆变电焊机可正常通电开机，但焊丝不化丝。客户将机器拆解后使用传统万用表进行测试已无法找出线路具体故障点，故咨询可否使用示波器进一步检测排查故障。逆变电焊机主要是...

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发布了文章 2021-5-25 09:57

泰克示波器TBS2000B系列有哪些功能

泰克示波器是大多数工程师都十分青睐的品牌，泰克一直坚持创造，推陈出新，为用户提供可靠性的产品，帮助用户更快更好的完成各种测试。泰克示波器TBS2000B系列也是完美秉承了这一特性。...

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发布了文章 2021-5-25 09:55

吉时利源表Keithley6430的应用

源表是一种可以进行四象限输出的设备，所谓四象限，就是电压和电流的输出方向可以设置为四种，分别对应用为电源、负载、万用表和电流源。...

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发布了文章 2021-5-25 09:51

PZT4压电陶瓷的温度变化研究

根据实验测试的PZT4压电陶瓷振子的温度变化情况，整理数据并进行画图，整理出升温曲线，左图是监控的电流变化情况，右图是PZT4压电振子的升温变化情况，随着输入功率的增加，压电振子出现了明显的升温变化。...

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发布了文章 2021-5-24 11:12

红外热像仪的检测范围

通过现场演示，可以看出，福禄克红外热像仪Ti450Pro的灵敏度是非常高的，而且拍出的画面十分清晰，客户表示对这一款热像仪十分满意。...

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发布了文章 2021-5-21 10:23

利用实时频谱分析仪捕获突发的RF干扰源

由于无线电频谱资源的有限及不可再生，而用户数量及无线电应用的急剧增加，当前的RF频谱正在变得越来越拥挤，越来越繁忙。如何更加高效地利用有限的RF频谱资源，是当前无线电从业者所要面临的首要问题。...

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发布了文章 2021-5-21 10:17

利用示波器进行声速测量实验

泰克示波器TBS2000B 作为泰克最新推出的一款基础示波器，在延续了以前 TBS1000-EDU课件功能的基础上，还升级了存储深度，达到了 5M 记录长度，并把显示屏的水平轴做到 15 格，这样在相同的时间单位上能比其他示波器多看 50%...

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发布了帖子 2021-5-20 11:17

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泰克示波器在功率器件动态参数/双脉冲测试的应用

张女士
助理西安安泰测试设备有限公司

一、测试需求：功率器件如场效应晶体管(MOSFET)和绝缘双极晶体管[IGBT) ,这些功率器件提供了快速开关速度,能够耐受没有规律的电压峰值，被广泛应用于电源转换产品的设计。尤其最新第三代半导体SiC和GaN快速发展和应 ...

来源：测试测量技术
发布了文章 2021-5-20 11:13

加快万用表速度的小窍门

以Model 2000型号的速率设置为例，我们可以根据测试的着重点选择不同的测试模式。...

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2349次阅读

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发布了文章 2021-5-19 11:06

半导体器件测试方案的详细介绍

测试半导体材料的霍尔效应是表征和分析半导体材料的重要手段。我们可以根据霍尔系数的符号来判断半导体材料的导电类型，是N型还是P型；霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。当带电粒子（电子或空穴）被约束在固体材料中...

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发布了文章 2021-5-19 10:50

半导体分立器件I-V特性测试方案的详细介绍

近期有很多用户在网上咨询I-V特性测试， I-V特性测试是很多研发型企业和高校研究的对象，分立器件I-V特性测试可以帮助工程师提取半导体器件的基本I-V特性参数，并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。 I-V特性测试难点：种类多微电子器...

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