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冯小明

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广东省广州市丨测试测量

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DFT扫描设计在控制芯片的测试中的应用 2010-09-02 10:22

　　本文通过对一种控制芯片的测试，证明通过采用插入扫描链和自动测试向量生成(ATPG)技术，可有效地简化电路的测试，提高芯片的测试覆盖率，大大减少测试向量的数量，缩

电子工程师

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SOC中多片嵌入式SRAM的DFT实现方法 2011-12-15 10:25

本文基于MBIST的一般测试方法来对多片SRAM的可测试设计进行优化，提出了一种通过一个MBIST控制逻辑来实现多片SRAM的MBIST测试的优化方法。

wuchang555

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什么是DFT,DFT是什么意思 2010-06-07 11:00

DFT:数字电路(fpga/asic)设计入门之可测试设计与可测性分析,离散傅里叶变换,(DFT)Direct Fouriet Transformer 可测试性技术（Design For Testability-

电子工程师

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提高DFT测试覆盖率的方法 2012-04-20 09:39

现今流行的可测试性设计(DFT：Design For Testability)为保证芯片的良品率担任着越来越重要的角色。

辉子无敌1

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