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T40-I I电路及元器件故障检测分析仪

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T40-I I电路及元器件故障检测分析仪本仪器由测试探头、测试仪、上位机软件组成。可将故障定位到器件的管脚，并给出可能的失效机理，通过分析失效机理和引入路径，便于设计师发现设计缺陷和失效点。适用于研发或质量 ...

来源：电子元器件论坛
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T40-I I电路及元器件故障检测分析仪

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T40-I I电路及元器件故障检测分析仪本仪器由测试探头、测试仪、上位机软件组成。可将故障定位到器件的管脚，并给出可能的失效机理，通过分析失效机理和引入路径，便于设计师发现设计缺陷和失效点。适用于研发或质量 ...

来源：医疗电子论坛
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T40-I I电路及元器件故障检测分析仪

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T40-I I电路及元器件故障检测分析仪本仪器由测试探头、测试仪、上位机软件组成。可将故障定位到器件的管脚，并给出可能的失效机理，通过分析失效机理和引入路径，便于设计师发现设计缺陷和失效点。适用于研发或质量 ...

来源：实用工具软件区
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可靠性测试方法

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来源：测试测量技术
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S40电路板显微检测仪

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本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:57 编辑 S40电路板显微检测仪本仪器由电子显微镜（环形光源、光学镜头、CCD工业摄像头）、XY轴二维手动（电动）平移台、显示和图像管理（软件、电脑）三部分组成，可用于PCBA ...

来源：设计与制造封装测试
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T40电路及元器件故障检测分析仪

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本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:46 编辑 T40电路及元器件故障检测分析仪本仪器由测试探头、测试仪、上位机软件组成。可将故障定位到器件的管脚，并给出可能的失效机理，通过分析失效机理和引入路径，便于设计 ...

来源：设计与制造封装测试
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T20多路测温仪

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本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:57 编辑 T20多路测温仪产品介绍本仪器由主机、测温探头、U盘（数据存储介质）、上位机软件四部分组成。电子仪器的失效机理中，热失效是主要的失效模式，因此，研发样机的可靠性 ...

来源：设计与制造封装测试
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T40电路及元器件故障检测分析仪

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T40电路及元器件故障检测分析仪本仪器由测试探头、测试仪、上位机软件组成。可将故障定位到器件的管脚，并给出可能的失效机理，通过分析失效机理和引入路径，便于设计师发现设计缺陷和失效点。适用于研发或质量部门 ...

来源：电源技术论坛

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