在FOC算法中电流采样的方案

　　在FOC算法中，电流采样通常有三种方案，单电阻采样，双电阻采样，三电阻采样。每种方案都各有优缺点，下表从成本和算法角度做了对比。

　　实际应用中，成本的压力往往是比较大的。所以在安全等级要求一般的场合，大都采用无感单电阻采样的方案。
　　有关单电阻采样的详细讲解可以在各大MCU厂商的应用笔记中学习。如想快速获得相关文档，可以在后台回复“FOC单电阻采样”，则会自动推送下载链接。
　　单电阻采样的弊端就是算法复杂，某些位置无法采样，但是无感控制又必须每个周期获取三相电流。各应用笔记中均提到在低调制系数和扇区边界附近，单电阻是无法采样的，原因是采样窗口太小，小于了MOS的延迟，运放的稳定时间以及采样保持时间之和。下图就给出了这些无法采样的区域，蓝色区域和中心的低调制系数区域都是无法采样的。

　　如下图，导致无法采样的原因主要是这些位置的T1和/或T2时间太小。

　　通过应用笔记中的图片还是无法直观理解为什么低调制系数和扇区边界不能采样。所以，本文就通过直观图示的方式说明为什么在低调制系数和扇区边界不利于采样。
　　首先，来看低调制系数时，T1和T2的分布。如图，从扇区1到扇区6，总存在T1或者T2的值过小，无法满足采样时间要求。






然后，来看扇区边界位置。边界位置总会存在PWM占空比相近的情况，导致T1和/或T2太小，无法采样。















原作者：Happy to Share