根据被测的器件类型不同，IC测试可分为数字
电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。其中，数字电路测试是IC测试的基础，除少数纯模拟IC如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外，现代
电子系统中使用的大部分IC都包含有数字信号。数字IC测试一般有直流测试、交流测试和功能测试，而功能测试一般在ATE上进行，ATE测试可以根据器件在设计阶段的模拟
仿真波形，提供具有复杂时序的测试激励，并对器件的输出进行实时的采样、比较和判断。利用ATE测试座进行连接，安装在ATE测试设备上进行各功能测试。ATE（Automa
ti
