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如何寻找Virtex6和7Series部件的类似亚稳态参数测量

大家好,
我知道XAPP094(它有Virtex2-Pro的测量值)和奥斯汀的这篇文章
http://forums.xilinx.com/t5/PLD-Blog/Metastable-Delay-in-Virtex-FPGAs/ba-p/7996
有Virtex4和Virtex5的测量。
我正在寻找Virtex6和7Series部件的类似亚稳态参数测量。
是否存在应用说明?
我猜猜V6&
7应该比早期的设备更好,但奥斯汀的帖子显示V5比V4差,所以这个猜测可能有风险。
顺便说一句,我不是在对亚稳定性进行一般性讨论之后。
我只是在参数之后。
谢谢,
艾伦

回帖(3)

潘晶燕

2020-7-18 17:15:14
艾伦,
联系您的Xilinx FAE。
我们确实有测量。
与亚稳态改善的权衡是,如果你做得更好(更少),DFF对软错误变得极为敏感。
因此,用于亚稳态的光学DFF也具有最差的FIT率(每十亿小时的故障)。
7系列的DFF是每百万FIT 5或更少。
对亚稳态DFF的优化为250至500 FIT / M.
那么,V6比V5差吗?
略。
和V7比V6差吗?
再次,少量。
建议使用三个DFF,并确保它们之间的路由很短(小延迟),因为路径越快,同步器就越好。
因此,一般规则是使用比你原本还要多一个阶段。
当向同步器添加一个阶段解决问题并且仍然保持系统的可靠性时,使数十万个DFF超级容易因软错误(低亚稳态)而保证失败是没有意义的。
对于整个系统,固定亚稳态忽略了其他问题。
我们的目标是做出最佳选择,使系统尽可能可靠。
有关指南和数字,请联系Xilinx FAE,
Austin Lesea主要工程师Xilinx San Jose
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何瑾

2020-7-18 17:25:58
嗨奥斯汀,
感谢那。
(我之前已经问过这个问题,但是......)为什么数据表中没有包括亚稳态行为或软错误率等器件参数,即使是典型的(不保证)数据?
谢谢,
艾伦
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潘晶燕

2020-7-18 17:32:32
艾伦,
软错误每季度在ug116中发布。
亚稳定性很难衡量,实际上对它的测量方法存在一些分歧。
如果没有Peter Alfke(Fairchild的第一个集成电路FIFO的发明者,以及公认的亚稳态专家),我们已经测量了亚稳态方法(至少)。
所以,这就是我建议你联系FAE的原因。
重要的是你要了解它的测量方法,因为没有它,你没有任何有用的东西。
Austin Lesea主要工程师Xilinx San Jose
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