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本帖最后由 木剑无情 于 2016-10-17 21:49 编辑
如图，ABC是三相交流电，DC100V是对壳体的电压，我通过这个电路检测ABC对壳体的绝缘电阻，现在在A对壳体之间加了个测试用绝缘电阻R28，然后利用软件依次控制E4,5,6的光耦接通和断开(K1是一个继电器，和光耦同时控制通断），再通过后端采样端口进行采样。 之前我做实验，电路里面没接R24,25,26，在加上交流电后试验十几次，AB相光耦就损坏了，无法再控制接通，更换新的光耦试验仍然坏。后来我在三相电与光耦间串入R24,25,26再做试验，累计做了150次也没坏，我再将这三个电阻去掉，做了二十次左右，三个光耦又都坏了，对比很是费解。 所以我想请教一下光耦坏的原因，还有串入三个电阻为什么会有效果？ ps.我之前网上看到有人说MOC3061光耦的抗干扰能力较差，需要进行抗干扰设计，不知道具体是怎么回事。 
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26个回答
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这种用法下，毫无疑问，双向光耦MOC3061一定会坏。
好好阅读3061说明书吧，看它双向端子耐压多少。 再计算380V正弦交流电压的峰值，你应该会懂的。 另外，不论及该设计合理与否，仅仅那些 0.125W 的 0k、51k、510k 电阻的串联，实在让人倍感奇葩！设计者在“创新”、在闹着玩。 |
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JQ_Lin 发表于 2016-10-26 17:05 我考虑过耐压的问题，所以后来通过调压器把电压调成300V，此时的峰值就远小于3061的耐压了，然而还是一样的损坏，所以才很费解。 至于串联的那些电阻，0Ω是为了后续如果需要调整参数时用到，其他的是计算得到的为了采样值在一个合理的范围内，且尽量减少电阻的型号。 |
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JQ_Lin 发表于 2016-10-26 17:05 我考虑过耐压的问题，所以后来通过调压器把电压调成300V，此时的峰值就远小于3061的耐压了，然而还是一样的损坏，所以才很费解。 至于串联的那些电阻，0Ω是为了后续如果需要调整参数时用到，其他的是计算得到的为了采样值在一个合理的范围内，且尽量减少电阻的型号。 |
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JQ_Lin 发表于 2016-10-26 17:05 我考虑过耐压的问题，所以后来通过调压器把电压调成300V，此时的峰值就远小于3061的耐压了，然而还是一样的损坏，所以才很费解。 至于串联的那些电阻，0Ω是为了后续如果需要调整参数时用到，其他的是计算得到的为了采样值在一个合理的范围内，且尽量减少电阻的型号。 |
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JQ_Lin 发表于 2016-10-26 17:05 不好意思，手机回复老是回了好几遍，不知道怎么删除 |
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这个你们对电路的各种保护搞的如何 请问楼主知道 相敏保护吗 这个有无线路图分享
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问题出在软件没有互锁保证ABC三相只通一个，偶尔两相均通，必然短路而坏。一定要全断开，再延20 M S，再接通一相，可以试一下，不要限流电阻也永远不坏！
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2024-2-14 19:27:01
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