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ARM调试和Flash调试的区别

2016-9-15 12:18:24 3101

0 其实关于Flash调试和RAM调试的概念，我也是从调试Kinetis的时候才开始接触，最初只是随便用用，没有深究，之后用的多了才开始深入研究两者之间的区别，发现里面大有文章可作，所以觉着有必要在这里谈谈自己的一点看法，做个笔记：上图为在IAR环境下的Flash调试界面和RAM调试界面首先说说什么是Flash调试和RAM调试，Flash调试就是通常意义下的普通调试，即将编译链接之后的code下载到单片机的ROM区，数据放到RAM区，然后进行调试；而RAM调试则是将数据放到RAM区的同时再从RAM区中额外开辟出一段空间存放可执行code，这样就是code和数据同时运行在RAM区里面。至于为什么要刻意区分出这两种调试方式，其实在低端MCU领域是没有RAM调试这个概念的，其中很大一部分原因是它没有足够大的RAM空间在存放编译后code代码的同时仍然可以拿出额外的空间作为数据RAM的，而在高端MCU领域中，比如ARM，动辄几十KB的RAM是很常见的，在不运行超大工程的情况下是完全可以拿出一部分空间运行代码的，所以也就出现了RAM调试这种方法了。相比于Flash调试，RAM调试则与生俱来的带来两个最大的先天优势，一个是RAM的可擦写的次数理论上是无限的，在调试代码的期间我们往往是需要不断下载更新的，而Flash的擦写次数是有限的（一般几万次、几十万次不等，虽然看起来足够多，但是也心疼的慌），因此在调试期间我们可以选择RAM调试；另一个方面，则更是RAM调试的强项（Flash真够悲催的），在RAM区的代码执行速率和效率远高于需要不断地读写Flash区代码的，这点毋庸置疑，所以在当今智能手机比拼硬件的时代，我们选择一款强大的CPU是应该的，但是要想让系统运行的更流畅，足够大的机载RAM是必须的，呵呵。当然RAM调试的缺点是掉电丢失，在RAM区运行的代码在掉电的情况下是不会被保存的，下次上电单片机仍然会执行Flash区内部的老的代码，这点是需要注意的，很多人忘记考虑这点，在RAM调试功能完毕，等拿到现场单片机独立运行的时候却发现程序是不对的，咳咳，那当然不对啦。。。理论部分介绍完毕，下面我们结合IAR开发环境来分析一下怎么实现Flash调试和RAM调试的。其实我们仔细研究发现，Flash调试和RAM调试在IAR下的区别只是.icf配置文件的不同罢了，其实很简单很容易理解，也就是把单片机的内存映射改变了，下面单拿出两者不同的部分晒出来（重要部分加了注释，供参考）： flash调试的256KB_Pflash.icf文件： /-Specials-/ "Times New Roman"">转载请注明出处和原作者jicheng0622 define symbol __ICFEDIT_intvec_start__ = 0x00000000;/* 中断向量的起始地址为ROM的首地址 / /-Memory Regions-/ define symbol __ICFEDIT_region_ROM_start__ = 0x0; define symbol __ICFEDIT_region_ROM_end__ = 0x00040000;/ 256k ROM空间 / define symbol __ICFEDIT_region_RAM_start__ = 0x1fff8410; define symbol __ICFEDIT_region_RAM_end__ = 0x20000000; … define exported symbol __VECTOR_TABLE = 0x00000000;/ 中断向量表放在ROM区0起始地址 / define exported symbol __VECTOR_RAM = 0x1fff8000; … define symbol __code_start__ = 0x00000410;/ 代码开始区地址在ROM区 / … place at address mem:__ICFEDIT_intvec_start__ { readonly section .intvec }; place at address mem:__code_start__ { readonly section .noinit }; place in ROM_region { readonly, block CodeRelocate}; / 将只读代码放到ROM区 / place in RAM_region { readwrite, block CodeRelocateRam, block CSTACK, block HEAP }; RAM调试的64k_ram.icf文件： /-Specials-/ define symbol __ICFEDIT_intvec_start__ = 0x1fff8000;/ 中断向量的起始地址为RAM的首地址 / /-Memory Regions-/ define symbol __ICFEDIT_region_ROM_start__ = 0x0; define symbol __ICFEDIT_region_ROM_end__ = 0x0;/ 将ROM空间置0 / define symbol __ICFEDIT_region_RAM_start__ = 0x1fff8000; define symbol __ICFEDIT_region_RAM_end__ = 0x20000000; … define exported symbol __VECTOR_TABLE = 0x1fff8000;/ 中断向量表放在RAM区首地址 / define exported symbol __VECTOR_RAM = 0x1fff8000; … define symbol __code_start__ = 0x1fff8410;/ 将代码开始区地址在RAM区 / … place at address mem:__ICFEDIT_intvec_start__ { readonly section .intvec }; place at address mem:__code_start__ { readonly section .noinit }; place in RAM_region { readonly, block CodeRelocate }; / 将只读代码放到RAM区 / place in RAM_region { readwrite, block CodeRelocateRam, block CSTACK, block HEAP }; 复制代码* 上面的代码我就不多做详细解释了，通过注释和对比估计大多数博友应该会理解了，不明白的地方欢迎下面留言共同探讨，当然，欢迎投票，呵呵。 1
2016-9-15 12:18:24　　评论淘帖0 举报相关推荐 • ARM调试 16 • 如何启用FLEXSPI NOR Flash的调试 0 • 如何启用FLEXSPI NOR Flash的调试 0 • 如何启用FLEXSPI NOR Flash的调试 0 • 如何启用FLEXSPI NOR Flash的调试 0 • 如何启用FLEXSPI NOR Flash的调试 0 • 如何使用J-Flash实现调试 7 • ARM调试方案 1 • ARM JTAG 调试原理 10 • ARM.JTAG.调试原理 81 4 个讨论

0 这个倒是知道

2016-9-15 14:14:12 评论举报 1^# 曲终人散

0 看到题目，瞬间震精了，还以为又出来一种什么高大上的单片机Flash呢。。。

2016-9-17 08:41:28 评论举报 2^# 海洋

0 看看，，，，，，，，，，，，，，，，

2016-9-17 09:34:49 评论举报 3^# lee_st

0 谢谢！！！！！！！！

2016-9-23 16:13:57 评论举报 4^# 楚云飞

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