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现在测试治具中，探针是作为一个媒介，探针放在套管里，探针头接触待测物，另一端的套管引出线将信号传导出去，接收回来的信号在测试机里处理，比如电阻利用电流源计算探针两端的压降，电容以定电压源不同频率去计算充电时间的斜率，探针在制成治具时他有可连续使用的特性，且成本不高因此他在测试界一直被广泛使用。 探针的头型分为多种主要的是因为不同的测试点需不同的头型，比如dip脚使用多爪头型，测试pad点使用尖头、圆头或者平头，IC脚位使用梅花头形等全依靠有经验的制作人员依PCB成品上的零件去选取。 纳米化对探针来说只是材料的加强，对于测试治具的冲击是没有的，如果你有兴趣，对测试治具冲击应该是测试仪器部分，比如AOI检测。 
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