屏蔽效能以及在近场和远场中的测试

2009-10-13 09:42:07 3916

0 当我们在均匀场中进行屏蔽效能测试时，近场和远场结果相似传统的谢昆诺夫屏蔽效能计算公式已被广泛应用于整个电磁兼容领域的教学和实践中。我们将在这篇文章中回顾谢昆诺夫教科书中的三个经典问题，并且试着解开关于屏蔽效能近场和远场测试的种种疑惑。我们将特别关注表达式SE = A+R+B以及经常使用的屏蔽表达式，SE=SE（H）= SE（E）。 ltimes Roman?? 7pt? new="New"> 平板屏蔽体——暴露于平面波 l 圆柱屏蔽体——暴露于位于圆筒中心轴线上的电流场 l 球壳屏蔽体——暴露于位于球壳中心环天线产生的场下面的等式1是广泛应用于EMC和屏蔽领域的基本屏蔽等式 SE = A+R+B （1）其中 A = 屏蔽体内产生的吸收损耗 R = 分界面上产生的一次反射损耗 B = 屏蔽体内所有其它反射游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复 [此贴子已经被作者于2009-10-13 9:44:07编辑过] 0
2009-10-13 09:42:07　　评论淘帖0 举报相关推荐 • 使用近场探头测试与远场测试的区别 6674 • 小窗法屏蔽效能测试箱在屏蔽效能测试中的应用 842 • 浅析天线近场测试、远场测试、紧缩场测试、天线罩测试 6441 • 如何理解天线的近场和远场 8674 • 电磁兼容中，近场和远场有什么区别？ 976 • 什么是光学中的近场和远场？二者的区别是什么？ 5649 • EMC近场远场概念与整改小技巧分享 4221 • 快速了解天线的近场远场的差别 6139 • 纳特通信的多探头球面近场测试系统与紧缩场测试系统（远场） 1839 • EMI和EMC的近场和远场的区别是什么 8965 4 个讨论