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【数学建模】器件功能测试方案的优化设计

2016-5-22 11:13:32 3563

0 我是一名在校大学生，这次遇到了一道数学建模题，苦于对电路知识了解甚微，想向各位前辈请教。在设计电子产品时，测试人员要对电路板设计测试方案。一个电路板包含很多器件，而且一个电路板上的同一类器件可能有多个。器件之间一般有电路导线（引脚）连接。已知每种器件一般有多个可能发生的故障（称为故障模式或失效模式），并且通过已有积累的测试知识，获得了每种故障模式发生的概率、及其对应的检测方式(即功能检测编码)、检测成本、检测有效率等。在设计测试方案时，往往要求测试方案的故障模式覆盖率不低于90%。一个测试方案的故障模式的覆盖率=测试方案覆盖的失效模式总数/所有失效模式总数。现有一个电子产品的电路板数据，其基本信息见附件1--附件5。请针对该电路板数据，建立模型完成以下工作： 1. 请给出一个计算办法，计算所设计的检测方案覆盖的失效模式总数； 2. 根据器件连接（不含引脚信息）的数据，建立数学模型，设计测试方案的优化策略，并给出具体的测试方案。 3. 如果还要考虑测试成本，请进一步优化你的测试方案。 4. 如果测试方案要细化到器件的引脚，请根据器件连接及其引脚连接等数据，建立数学模型，设计测试方案的优化策略，并给出具体的测试方案。如果还要考虑测试成本，请进一步优化你的测试方案。希望前辈们能解答我：器件之间的连接与检测器件的选择有什么关系 4 附件.rar 8.96 MB , 下载次数: 13
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