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实验猜想：ARM双沿中断处理存在缺陷

2014-5-6 10:25:34 2895

0 双沿中断缺陷注：编码器测量原理来源　鲜浩,任爱芝,盛仲飚. 增量式编码器数据采集[J ] .华北工业学院学报,2003 ,24 (2) :142 - 143. 一、问题背景：增量式编码器精确计数1、正常情况下：编码器输出信号如下当B相为高电平时，如果检测到A相有一个上升沿，则可说明波形从左向右运动，则令计数器加1；当B相为低电平时，如果检测到A相有一个上升沿，则可说明波形从右向左运动，则令计数器减1． 2、实际情况下：编码器输出信号如下实际情况下：编码器输出信号如下在B相的高电平期间，如编码器正好在A相的边沿位置来回旋转，而最终却没有产生角位移，这样会在B相高电平期间检测到无数个上升沿，会在计数器中加上很多次，这样，编码器并没有产生角位移，但却令相应的计数器加了很多次，从而引起了读数误差． 3、精确测量原理：当A 相出现一个上升沿(即A 非相出现一个下降沿)，若检测到B为高电平，则用软件令计数器加1；当A相出现一个下降沿，若检测到B为高电平，则用软件令计数器减1．这样，两个计数器之差，则对应了编码器实际的角位移，而其正负对应了旋转方向．设置单片机外部中断的触发方式为下降沿触发，当INTO产生断，判断B为高电平，则令计数器减1；当INT1产生中断，判断B为高电平，则令计数器加1．即：检测下降沿 A相（B为高，计数有效，+1，正向） A非相（A上升沿）（B为低，计数无效，-1，反向）（编码器一个脉冲，必定有上升沿和下降沿，）二、问题发现：S3C2440（ARM9）测量过程1、电平匹配编码器输出脉冲（3600 , 0.1度），峰值为工作电压，12V；控制器为CMOS电平，3.3V附近为高。使用高速光耦 6N137 电平匹配，输入波形如下：低速状况下： A+B 高速状况下（转速在 700 圈/分钟 50KHZ附近）： A + B 2、计数程序及调试信息中断处理函数如下主程序工作频率：400M 为方便调试，只有外部中断EINT0( A相正 )，EINT1（A相非，）工作，电机处于低速，消除串口打印延时误差 secureCRT 串口调试软件输出如下: 现象说明：在某个脉冲，MCU未能捕捉到上升沿或下降沿，出现计数失步，累计误差严重。三、误差来源猜想在稳定转速下（脉冲=上升沿+下降沿），MCU捕捉边沿会出现错误。猜测结论：ARM内核处理器，在捕捉同一周期，由同一脉冲转化而来的俩路边沿中断，会出现误差。关于ARM9 外部中断细节资料很少，下图是 ARM嵌入式系统基础教程（周立功，北航，ARM7）关于边沿触发的讲解。 0 2011128104037519.jpg (5.4 KB, 下载次数: 13)
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王敏 · 2014-5-6 10:30:36 沙发显示不正常，调试过程见附件，大家看看有什么问题！ ARM同周期双沿中断缺陷.zip 2.88 MB , 下载次数: 2

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