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晶振的两个电容叫负载电容,分别接在晶振两个脚上的对地的电容,一般在几十PF。据松季电子介绍,它会影响到晶振的谐振频率和输出幅度。 各种逻辑芯片的晶振引脚可以等效为电容三点式振荡器。晶振引脚的内部通常是一个反相器,或者是奇数个反相器串联。 在芯片设计时,这两个电容就已经形成了,一般情况下选用两个容量相等的电容。外接时大约是数PF到几十PF,依频率和石英晶体的特性而定,需要注意的是这两个电容串联的值是并联在谐振回路上的,会影响振荡频率。 当两个电容量相等时,反馈系数是0.5,一般是可以满足振荡条件的,但如果不易起振或振荡不稳定可以减小输入端对地电容量,而增加输出端的值以提高反馈量。 另外,在测试晶振时,有些方面还是需要特别注意: 1、每一个单独指标必须单独测试,不能同时测试几种指标,也不能同时测试几只晶振。 2、测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试。 3、在没有相当的测试设备和测试人员的情况下,不建议客户自行测试晶振,更不能随意调试晶振,测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。 4、对不同厂家的产品,尤其是来自不同国家的产品,有一些指标的测试方法不尽相同,应提前了解各厂家的异同点,统一意见,以减少不必要的麻烦。 |
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偏置电路与宽带偏置电路(Bias-Tee)-----电感器比较与选择
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