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`Near Field Probe (Loop Type fro area noise diagnosis): 使用環狀近場天線探測待測物高雜訊的區域: 電源區探測: Power Supply Area: 觀察環狀近場天線探測的結果，並在broad band 與narrow band 幅射強度較高的區域作記錄與記號。 PCB探測: 觀察環狀近場天線探測的結果，並在narrow band 幅射強度較高的區域作記錄與記號。 
Near Field Probe (Point type for signal pin or trace noise diagnosis) 使用點針狀近場天線探測環狀近場探測高雜訊的區域: 電源區探測: Power Supply Area: 觀察環狀近場天線探測的結果，並在broad band 與narrow band 幅射強度較高的信號線或IC Pin腳作記錄與記號。 PCB探測: 觀察點針狀近場天線探測的結果，並在narrow band 幅射強度較高的信號線或IC Pin腳作記錄與記號。 ` 
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