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大家好
我使用Nano100B_Series_BSP_CMSIS_V3.02.000Nano100B Series BSP_CMSIS_V3.02.000SampleCodeStdDriverUSBD_HID_TransferKEIL 裡头的档案烧录进NANO130KE3BN晶片 并且想要使用内附的Window Tool观察资料的传输 但是我利用Visual C++ compile出Window Tool应用程式 他却会显示single sector erase test fail的讯息 请问各位有没有遇过相关问题 希望可以提出解决方法 
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