完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦, 立即完善>
|
|
相关推荐
1个回答
|
|
Automatic Test Pattern Generation(ATPG)
ATPG有效性是衡量测试错误覆盖了的重要指标。测试是向一个处于已知状态的对象施加确定的输入激励,并测量其确定的输出响应与理想的期待响应进行比较,进而判断被测对象是否存在故障。测试向量:输入激励+理想的期待响应。 DFT是逻辑相关的工作,需要在gate(logic)level解决。 制造缺陷--》故障模型 需要通过对芯片内部制造缺陷引起的电路故障建立逻辑上的模型,从而通过测量电路在输入输出管教上行为,来判断芯片内部是否存在制造缺陷。 固定型故障模型(stuck-at fault model) 时延故障模型(delay fault model) 基于电流的故障模型(current-based fault model) 。..。.. 几种常见的DFT技术: 扫描测试(scan):将电路中的存储单元(寄存器register)转化成为可控制和可观察的存储单元,将这些单元连接成一个或多个移位寄存器,即扫描链。 内建自测试(bist):在电路内部增加测试电路结构,在测试时这个测试电路结构能够自己产生机理和比较响应。 静态电流测试(IDDQ):若存在电流性故障,会使电路在静态时产生一个高于正常值的电流。 DFT--》ATPG 在DFT工具完成其硬件结构设计部分工作后,需要将设计转交给ATPG工具自动生成测试向量。需要转交的包括两个文件: 1、网表文件:包括DFT电路 2、测试协议文件:告诉ATPG工具所采用的测试协议:包括设计的输入、输出、时钟、测试波形等星系。 然后有ATPG工具自动生成测试向量文件(STIL文件)。 |
|
|
|
只有小组成员才能发言,加入小组>>
4516个成员聚集在这个小组
加入小组3338 浏览 0 评论
航顺(HK)联合电子发烧友推出“近距离体验高性能Cortex-M3,免费申请价值288元评估板
4267 浏览 1 评论
4292 浏览 0 评论
小黑屋| 手机版| Archiver| 电子发烧友 ( 湘ICP备2023018690号 )
GMT+8, 2024-12-24 13:03 , Processed in 0.560997 second(s), Total 44, Slave 38 queries .
Powered by 电子发烧友网
© 2015 bbs.elecfans.com
关注我们的微信
下载发烧友APP
电子发烧友观察
版权所有 © 湖南华秋数字科技有限公司
电子发烧友 (电路图) 湘公网安备 43011202000918 号 电信与信息服务业务经营许可证:合字B2-20210191 工商网监 湘ICP备2023018690号