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相信平常关注高压放大器的小伙伴,对于扫描式固体腔F-P干涉仪的设计的内容一定不陌生,今天安泰电子小编就给大家分享一个纯干货案例:高压放大器基于扫描式固体腔F-P干涉仪的设计与优化中的应用,话不多少,快和小编一起继续往下看吧! 有关实验名称:高压放大器基于扫描式固体腔F-P干涉仪的设计与优化中的应用实验目的:优化设计扫描式固体腔F-P干涉仪 实验设备:光源,准直扩束系统,待测电光晶体(包含驱动),4f系统和CCD,信号源,ATA-2161高压放大器,示波器。 实验内容:为实现全天时边界层内大气温度绝对探测,即精细获取大气Rayleigh散射谱形,借鉴F-P干涉滤波技术和晶体的电光特性,设计了一种扫描式固体腔F-P干涉仪,测试其滤波性能并进行优化。 实验过程:如图是搭建的透射型马赫曾德干涉仪光路,此光路用做全息图的记录,主要包括以下几个部分:光源,准直扩束系统,待测电光晶体(包含驱动)、4f系统和CCD。 测量晶体内部均匀性和折射率调制度关系的系统图 电光晶体高压驱动,函数发生器,使其产生一个脉冲方波信号,然后经过ATA-2161高压放大器使其放大,最终把放大后的信号加载到晶体上,完成晶体电光性能的测试。 电光晶体高压模块标定 实验结果: (1)不同电压下CCD上记录的全息图 (2)不同电压场下,对应晶体折射率的改变量 对图相位图中晶体相位的改变量进行平均处理,得到不同电压场下,对应的晶体的相位改变量,再由公式计算得出,不同电压场下,对应晶体折射率的改变量。 相位调制和折射率调制度实测值与理论值的对比 实验中所用到的ATA-2161高压放大器: 以上就是Aigtek安泰电子为大家介绍的有关:高压放大器基于扫描式固体腔F-P干涉仪的设计与优化中的应用的全部内容了。更多精彩行业资讯及应用案例,请继续关注Aigtek安泰电子。 |
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