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转载自https://mp.weixin.qq.com/s/RChXpJYni0vqZdJgWtFqJQBoundary Scan: A:Boundary scan 顾名思义,是附加在芯片I/O 周边的扫描测试链,它通过专门的测试端口(TAP)访问。在测试模式下,边界扫描链会接管功能逻辑,对I/O进行灵活访问。边界扫描链的结构,测试端口,以及其控制器(TAP Controller),被IEEE定为标准协议(IEEE 1149), 也称做JTAG. 边界扫描链最早应用于印刷电路板上芯片间的互联测
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