移位寄存器：串行输入，串行输出

电路

串行输入，串行输出移位寄存器每级将数据延迟一个时钟时间。

它们将为每个寄存器存储一点数据。串行输入，串行输出移位寄存器的长度可能为一到64位，如果级联寄存器或封装，则长度会更长。

下面是一个单级移位寄存器，用于接收与寄存器时钟不同步的数据。

当时钟由低变高时，D FF（触发器）类型的D引脚上的“数据输入” 不会改变电平。

我们可能希望将数据同步到电路板上的系统级时钟，以提高数字逻辑电路的可靠性。

上面所示的明显点（与下图相比）是，在D FF类型的D引脚上存在的任何“数据输入”都在时钟时间从D传输到输出Q。

由于我们的示例移位寄存器使用的是上升沿敏感的存储元件，因此当时钟从低到高转换时，输出Q跟随D输入，如上图的向上箭头所示。

毫无疑问，在时钟时间存在什么逻辑电平，因为数据在时钟沿之前和之后都稳定。

在多级移位寄存器中很少出现这种情况。但是，这是一个简单的例子。我们只关心从低到高的正时钟沿。

下降沿可以忽略。很容易看到Q在上面的时钟时间跟随D。

将其与下图比较，其中“数据输入”似乎随时钟的上升沿而变化。

由于“数据输入”似乎在上述时钟时间t 1发生了变化，因此D FF 类型在时钟时间会看到什么？

简短的简化答案是，它会在时钟之前看到D处存在的数据。

那就是在时钟时间t 1传输到Q的内容。正确的波形是Q Ç。如果在t 1处 Q还不是零，则Q变为零。

所述d寄存器不看到一个直到时间t 2，在该时间Q变高。

由于在D处出现的上述数据在某个时钟时刻被计时到Q，并且Q直到下一个时钟时刻才能改变，因此D FF将数据延迟一个时钟周期，前提是该数据已与该时钟同步。Q A波形与“数据输入”相同，但延迟一个时钟周期。

接下来将详细介绍D型触发器的输入在时钟时间的情况。

请参考下图。由于“数据输入”似乎在时钟时间（以上）发生变化，因此我们需要更多信息来确定D FF看到的内容。

如果“数据输入”来自另一个移位寄存器级，另一个相同的D FF，我们可以根据数据手册信息得出一些结论。

数字逻辑制造商在数据表中提供了有关其零件的信息，以前仅在称为数据手册的集合中可用。

数据手册仍然可用；但是，制造商的网站是现代资源。

下面的数据是从CD4006b数据表中提取的，用于在5V DC下工作，这是一个说明时序的示例。

t S = 100ns
t H = 60ns
t P = 200-400ns典型值/最大值

t S是建立时间，时间数据必须在时钟时间之前存在。在这种情况下，数据必须在时钟之前的D 100ns 出现。

此外，必须在时钟时间之后将数据保持时间 t H = 60ns。必须满足这两个条件，才能将数据从D可靠地时钟到触发器Q。

满足60ns的建立时间没有问题，因为如果D处的数据来自另一个移位寄存器级，则该数据在整个先前的时钟周期内一直存在。

例如，在1 Mhz的时钟频率下，时钟周期为1000 µs，这是很多时间。

实际上，数据将在时钟之前存在1000µs，这比60ns 的最低要求t S大得多。

之所以满足保持时间t H = 60ns，是因为连接到另一级Q的D的变化不能快于前一级t P = 200ns 的传播延迟。

只要前一个D FF 的传播延迟大于保持时间，就可以满足保持时间。

对于CD4006b，由另一级Q驱动的D处的数据变化不会快于200ns。

总而言之，如果触发器级联到多级移位寄存器中，则输出Q在接近时钟时间跟随输入D。

三个D型触发器在Q到D之间级联，并且时钟并行，以在上面形成三级移位寄存器。

键入JK翻转Flopss级联Q可J，Q”至K的时钟在平行于上述得到的移位寄存器的另一种形式。

串行输入/串行输出移位寄存器具有时钟输入，数据输入和最后一级的数据输出。

通常，其他级输出不可用，否则它将是一个串行输入，并行输出移位寄存器。

以下波形适用于串行输入，串行输出移位寄存器的前两个版本之一。

三对箭头表示三级移位寄存器临时存储3位数据，并将其从输入到输出延迟三个时钟周期。

在时刻t 1 “数据中”的0是从计时d到Q的所有三个阶段。特别地，阶段A的D看到逻辑0，该逻辑0被计时到Q A，在这里它一直保持到时间t 2。

在时刻t 2 “数据在”的1从计时d至Q 甲。在阶段乙和Ç，一个0，从先前级供给的计时至Q 乙和Q Ç。

在时刻t 3 “数据中”的0是从计时d至Q 甲。由于“ data in”为0， Q A变为低电平并在其余时钟中保持低电平。由于前一级为1，Q B在t 3处变高。由于前一阶段的较低，在t 3之后Q C仍然较低。

由于从前一级Q B馈入D的高电平，Q C最终在时钟t 4处变为高电平。所有早期阶段都有0 s移入其中。并且，在t 5的下一个时钟脉冲之后，所有逻辑1 s将被移出，取而代之的是0 s

串行输入/串行输出设备

我们将仔细研究一下德州仪器（ti）提供的以下集成电路零件。

有关完整的设备数据手册，请点击链接。

CD4006b 18位串行输入/输出移位寄存器
CD4031b 64位串行输入/输出移位寄存器
CD4517b双64位串行输入/输出移位寄存器

以下串行输入/串行输出移位寄存器是4000系列CMOS（互补金属氧化物半导体）系列器件。

因此，他们将接受3到15伏的V DD正电源。V SS引脚接地。

移位时钟的最大频率随V DD变化，为几兆赫兹。

18位CD4006b由两级4位和另外两级5位组成，输出抽头为4位。

因此，5位级可以用作4位移位寄存器。

要获得完整的18位移位寄存器，必须将一个移位寄存器的输出级联到另一个移位寄存器的输入，依此类推，直到所有级都创建一个移位寄存器，如下所示。

CD4031 64位串行输入/输出移位寄存器如下所示。

未连接许多引脚（nc）。Q和Q“是可从第64阶段，实际上Q 64和Q” 64。

还有一个Q 64从半级“延迟”，它延迟了半个时钟周期。一个主要功能是数据选择器，它位于输入到移位寄存器的数据上。

“模式控制”在两个输入之间进行选择：数据1和数据2。如果“模式控制”为高，将从“数据2”中选择数据以输入到移位寄存器。

在“模式控制”为逻辑低的情况下，选择“数据1”。下面的两个图中显示了此示例。

上面的“数据2”连接到移位寄存器的Q 64输出。当“模式控制”为高电平时，Q 64输出被路由回到移位器数据输入D。

数据将从输出循环到输入。如上所示，数据将每64个时钟脉冲重复一次。

出现的问题是该数据模式如何首先进入移位寄存器？

当“模式控制”为低电平时，选择CD4031“数据1”作为输入到移位器。

输出Q 64不再循环，因为下部数据选择器门已禁用。

“禁用”是指在较低的NAND门上两次反转为低电平的逻辑低“模式选择”阻止其将较低引脚（数据2）上的任何信号传递至栅极输出。

因此，它被禁用。

上面显示了CD4517b双64位移位寄存器。请注意在第16、32和48阶段的抽头。

这意味着可以使用64位移位器之一来配置这些长度的移位寄存器。

当然，可以将64位移位器级联以产生80位，96位，112位或128位移位寄存器。

级联两个移位器时，时钟CL A和CL B需要并联。WE B和WE B为正常变速操作接地。

数据输入到移位寄存器A和B是d 阿和d 乙分别。

假设我们需要一个16位的移位寄存器。

可以用CD4517b进行配置吗？同一部分的64移位寄存器怎么样？

上面我们显示了CD4517b，它被连接为B部分的16位移位寄存器。

。数据在CL]对于A部分中的时钟是CL A。在CL的数据进入A。从Q 64A拾取延迟了64个时钟脉冲的数据。WE A（A部分的写使能）已接地。

bigbangboom · 2020-9-24 09:33:52

移位寄存器，好久没复习了，上大学数电学了下

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