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`特点/应用
◆ 2至6英寸样品台 ◆ 高真空腔体 ◆ 防辐射屏设计,样品温度均匀性更好 ◆ 77K-675K高低温环境 ◆ 兼容IV/CV/RF测试 ◆ 外置多探针臂,移动行程大 ◆ 经济实用,可无缝升级 极低温测试: 因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。 高温无氧化测试: 当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。 晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。 ◆ 腔体规格:
◆ 光学系统:
◆ 探针臂:
◆ 其他组件:
◆ 可选附件
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在只有一个电子负载仪的情况下,如何持续监控并记录太阳能充电板的全程充电电流?
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