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最近台电发布了一款平板电脑:台电T30。台电T30采用了一块10.1英寸全贴合IPS屏幕,分辨率为1920*1200,屏幕显示效果十分出色,并且还内置了护眼模式。性能方面,台电T30采用了一颗联发科的Helio P70八核处理器,这颗专门定制的处理器,采用了12nm工艺制程,不仅功耗更低,性能方面也同样出色,整体性能相当于骁龙660处理器。
另外,这款新平板采用了8000毫安的聚合物锂电池,轻松满足日常使用需要,解决频繁充电的烦恼。 更让人惊喜的是,台电T30支持4G通话/上网,配备前置/后置高清摄像头,满足日常拍照、视频通话的需求。 近年来,大批的智能黑科技产品如雨后春笋般纷纷涌现,如手机、平板电脑、笔记本、智能穿戴设备等经历了革命性的创新。互联网技术的发展进步推进了数码科技产业的革新,也影响了相关连接器测试模组产业的发展转变。 平板电脑发展的趋势如此之快,固对其主要的部件,如屏幕、电池、摄像头等进行相关的测试是非常重要的,那么其中的连接器测试模组该如何选择呢? 为了适应目前市场上多样化的测试要求,针对BTB/FPC连接器的测试部件,如3C锂电池、LCD屏与OLED屏、摄像头等,鸿怡电子自主研发了一款BTB/FPC弹片微针模组blade pin。 深圳鸿怡电子有限公司通过三年的潜心钻研,自主研发了一款测试连接器模组的大电流BTB/FPC弹片微针模组,且目前已获得国家专利。与传统模组pogo pin相比,这款弹片模组有着许多惊人的亮点 第一,blade pin是大电流模组,最高可承受高达30A的额定电流,包容1-30A之间的电流,完美应对复杂的测试环境与要求(尤其对于电流通过要求高的3C锂电池而言)。而传统的pogo pin过流能力差,仅为1A。 第二, blade pin的pitch可取值范围大,在0.1mm-0.4mm,最小间距可达0.1mm!而pogo pin的pitch可取值范围小,仅在0.3mm-0.4mm,无法应对多样化的测试要求 第三, blade pin的平均使用寿命高达20W次,是pogo pin的四倍!传统pogo pin的平均使用寿命仅为5W次,无法应对高频率的测试要求,更换次数频繁,拖慢测试进度。 第四, blade pin采用的是弹片结构,体化成型后期加硬镀金处理,接触形状和整体高度很容易按照客户要求制作,测试较为稳定。而传统pogo pin的探针结构易导致断针、卡pin等不稳定的现象发生,进而影响测试效率,拖慢测试进度。 针对BTB/FPC连接器的测试部件,如3C锂电池、LCD屏与OLED屏、摄像头等,这款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin提供了一个优秀的解决方案,blade pin的适用性范围广、稳定性高、寿命长等特点都给相关的测试人员带来了莫大的方便。选择鸿怡电子,选择blade pin,就是选择了安全、高效率、低成本的测试方式。 |
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