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介绍目前，非信令技术正方兴未艾，主要用于缩减制造测试时间和成本，并且适用于广泛的技术。芯片组厂商正在想方设法为手机制造商提供此类能力。因此开发针对特定芯片组的专用测试模式，尤其是适合蜂窝验证测试的测试模式已经引起了市场的重视。
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3个回答
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此前的文章探讨了不同测试模式中非信令功能的演进和变化程度，并引入了两个术语来描述功能范围。它们有助于解释测试工程师缩减测试时间的潜力，而且分别代表非信令领域潜力水平的一极：
1.非信令 2.快速排序非信令 快速排序非信令测试模式能够显著地优化设计，最大限度地减少测试时间和成本。 受芯片组非信令功能开发这一趋势的影响，手机制造商正在寻求指导，以便最大限度地利用这些测试模式的潜力。本文将讨论这些测试模式如何影响测试仪器的选择，包括研发测试和制造测试。 集成这些新的测试模式通常需要引入新的测试技术。对于非信令测试，引入新的下一代非信令测试设备有可能带来额外的收益，主要是该测试模式的技术优势（见〔1〕中的详细讨论）以及测试设备的非信令测试技术。这就是说，信令测试设备与新一代非信令测试设备的共存对于能否在整个测试过程中广泛引入非信令测试至关重要。 非信令测试的出现 无线技术相关人员可能已经认识到使用适合芯片组控制技术的挑战。例如，802.11 无线局域网（WLAN）和 IEEE 802.16（WiMAX®）两种技术已经可以在其整个生命周期中进行测试，但在每个测试阶段，尤其是在测试向制造阶段过渡的过程中没有信令或空中（OTA）协议。Bluetooth® 制造测试在向测试过渡的过程中同样没有提出信令测试要求。此类芯片组的测试模式为测试工程师提供了充分的自由，使他们可以让器件在要求的信道上以特定的预定义方法发射和接收信号。这不仅是被测芯片组在制造测试校准阶段的一个特性，而且适用于验证测试。在验证测试阶段，器件有时会产生预定义序列。 芯片组控制可以优化蜂窝器件的开发与测试，并可将多个频段和制式整合到单个芯片组或解决方案中。新出现的芯片组不再需要 OTA 协议，并集成了特定的功能，能够帮助测试工程师验证测试排序，从而节约测试时间。 随着下一代芯片组逐步普及，测试厂商正在寻求支持下一代测试技术的测试仪器。与无线测试技术的演进模式类似，为了满足特定测试模式的要求，芯片组设计人员与测试设备制造商之间的合作十分重要。借助目前芯片厂商之间现有的联系，测试设备制造商可以提供实现非信令测试的解决方案。 此外，测试厂商已经推出了针对特定芯片组的商业测试解决方案，使制造商可以轻松地将器件和测试设备集成在一起。 当前的趋势正在朝集成预定义非信令方向发展，其中芯片组将可以在验证测试中输出跨越不同功率和频率范围的各种信号。许多手机已经具备预定义发射的功能（通常至少可以预定义功率和频率），这可以规范校准测试，缩减器件设置时间，进而缩减测试时间。目前特定芯片组的非信令测试模式和技术正不断涌现，其主要目的在于缩短蜂窝器件的验证测试时间。蜂窝验证测试是这些技术的下一个用武之地，它们能够缩短校准阶段中的测试时间。 但是，芯片组厂商必须先开发出测试模式，以供手机制造商使用。芯片组厂商在测试模式中添加的非信令功能越多，则制造测试工程师可能节约的时间越多。 |
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2019-9-27 15:57:41
评论
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非信令类别器件
对于时下的非信令器件（有别于快速序列非信令）来讲，现有的信令/非信令测试设备或是新一代非信令测试设备都能够显著节省测试时间。然而在使用信令测试设备进行测试时，必须要考虑具体的技术要求，以确保完整的兼容性。如前所述，新一代非信令测试设备超越信令测试设备的优势就在于其芯片组的功能更强大，测试速度更快。 此外，测试设备的性能也是解决测试模式需求的一个因素。在测试模式和测试功能允许的前提下，使用非信令支持软件升级现有的信令设备更为经济。 快速序列非信令类别器件 新一代非信令测试设备能够为快速序列非信令器件提供最佳的测试范围。由于拥有排序功能的非信令测试模式主要是在新一代非信令测试设备上部署，所以现有的信令测试设备很难发挥这一模式的最大潜能。此外，新一代非信令设备具有更高的灵活性，能够脱离信令的诸多限制，可为验证工作提供灵活的、基于序列的测试方式。例如，它能够把信令测试中作为规则强制执行的频段、蜂窝制式、信道、功率范围和时隙等方面的限制排除在外。在验证过程中，信令测试设备与新一代非信令测试设备的最大区别在于后者拥有排序功能。 调试功能可以解决制造阶段中出现的非信令难题。当在生产线上部署完新一代综合测试仪后，可使用它的调试功能。如果出现问题，工程师可以使用测试设备进行各种诊断。例如，通过专用的射频频谱分析工具专门针对某种制式诊断问题，或者诊断错误序列的特定部分。操作人员可以通过前面板操控测试设备，并且通过显示屏调试射频信号。 总结 业界需要专用的非信令测试设备解决方案，以便为新的非信令芯片组的普及做好准备，最终提供更新颖、更快捷的测试技术。此外，业界还考虑在推出下一代非信令测试设备的同时重复使用现有的信令测试设备，以帮助验证新的非信令开发成果。 当启动非信令的推广和开发时，专用、灵活的新一代非信令测试设备能够发挥最大的潜力，满足未来的测试需求。在研发阶段，综合测试仪可以通过特定制式的工具提供台式测试和全面调试功能，并能够调试针对制造业设计的非信令序列。同样，其性能良好的信号源可以提供类似独立信号发生器的测试。在排序方面，它还提供了特定的工具，用于推动该信号源和分析仪同时跨过某个序列。 现有的信令测试设备能够为那些在制造过程中进行非信令测试的设备提供测试范围。新一代非信令测试设备可以提升测试速度，从而使非信令测试模式大为受益。当芯片组集成快速序列非信令测试模式，特别是在验证过程使用预定义测试序列时，新一代非信令测试设备必须用于测试射频参数。 |
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