[问答]

如何检测高速差分信号耦合电容器

问答对人有帮助，内容完整，我也想知道答案 0 嗨，这只是一个奇怪的问题。目前，板上有越来越多的高速线路，大多数是交流耦合差分线路，其上带有串联电容器。我注意到一些IC已经支持1149.6，这是其标准。我想知道这些电容器是否开路和短路，是否可以检测到它们以及如何检测？以上来自于谷歌翻译以下为原文 Hi, Just a curious question. There are more and more high-speed lines on board today and most are AC-coupled differential lines with series capacitors on them. I notice some of the ICs support 1149.6 already which is the standard for this. I'm wondering if those capacitors are open and shorted, can they be detected and how? 0
2019-7-25 09:11:37　　评论淘帖0 邀请回答您可以邀请以下用户，快速回答问题 × kingnet_52040 该类别下有 195 个回答。邀请回答 60user7 该类别下有 81 个回答。邀请回答蓝色冰汐该类别下有 45 个回答。邀请回答醉狼工作室该类别下有 41 个回答。邀请回答 ianwhoani 该类别下有 30 个回答。邀请回答 dkhwakd 该类别下有 25 个回答。邀请回答 aaabbb567 该类别下有 23 个回答。邀请回答 e08506806 该类别下有 20 个回答。邀请回答 szzjfyp 该类别下有 18 个回答。邀请回答 ningee 该类别下有 16 个回答。邀请回答 sonia87 该类别下有 16 个回答。邀请回答 zouqinxiang 该类别下有 15 个回答。邀请回答 xj5548 该类别下有 15 个回答。邀请回答 daichuangs 该类别下有 14 个回答。邀请回答 derek88 该类别下有 14 个回答。邀请回答 JST2006 该类别下有 12 个回答。邀请回答 hzmbs2016 该类别下有 12 个回答。邀请回答 fichesw 该类别下有 11 个回答。邀请回答 www037 该类别下有 11 个回答。邀请回答 ToGoodSoft 该类别下有 11 个回答。邀请回答举报刘婷相关推荐 • 耦合电容器事故的原因和表现有哪些？ 2671 • 去耦电容器它的作用到底是什么？ 1635 • 电容器的认识、使用与检测 1642 • 请问如何检测可变电容器？ 1794 • 什么是瓷介电容器? 1470 • 电容器由什么组成及如何使用 2779 • 关于电容器的检测方法主要有哪些？ 1409 • 电容器的选用经验有哪些？ 2371 • 电容器的检测是拿去检测机构检测还是自己买设备检测？ 10399 • 请问电容器充电的问题 4559 1个回答

答案对人有帮助，有参考价值 0 嗨Calvin，感谢您对IEEE 1149.6关于交流耦合差分线路的良好质疑，该线路采用串联电容。串联电容的测试是1149.6测试覆盖率的重要部分。 IEEE 1149.6标准支持丢失/开路以及短路电容，但并非所有应用都支持短路电容，如IEEE 1149.6标准中的概述。您可以从IEEE网站下载IEEE 1149.6标准的pdf副本：http：//ieeexplore.ieee.org/更多信息可以在1149.6网站找到：http：//grouper.ieee.org/groups/1149/ 6 / index.html Agilent Medalist i3070软件版本07.10p及更高版本支持IEEE 1149.6，它将捕获丢失的电容以及其他故障，包括短路/开路差分线路，1149.6互连测试期间短路差分线路连接至GND或VCC。 Agilent Medalist i3070软件版本07.20p还包括1149.6的短路电容器覆盖率，这是任何支持IEEE 1149.6的系统中的第一个。请注意，测试1149.6应完全符合IEEE 1149.6标准，以便能够测试上述覆盖范围。 RegardsJun 以上来自于谷歌翻译以下为原文 Hi Calvin, Thanks for your good question about the IEEE 1149.6 coverage on AC coupled differential lines which use a series capacitance in the line. Testing of the series capacitor is an important part of the 1149.6 test coverage. The IEEE 1149.6 standard support missing/open as well as shorted capacitor however not all application support shorted capacitor as outline in the IEEE 1149.6 standard. You can download the pdf copy of the IEEE 1149.6 standard from the IEEE website: http://ieeexplore.ieee.org/ More information can be found at the 1149.6 site: http://grouper.ieee.org/groups/1149/6/index.html Agilent Medalist i3070 software revision 07.10p and above support IEEE 1149.6 which will capture missing capacitor along with other failure which includes shorted/open differential line, shorted differential line to GND or VCC during the 1149.6 interconnect test. The Agilent Medalist i3070 software revision 07.20p also included shorted capacitor coverage for 1149.6 which is the first in any system that supports IEEE 1149.6. Take note that testing 1149.6 should fully comply to the IEEE 1149.6 standard in able to test the coverage mentioned above. Regards Jun

2019-7-25 09:25:27 评论举报廖丽霞