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图1：高速串行链路的基本架构 
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7个回答
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对于系统/芯片的接收端测试，会有几个方面的挑战，第一是loopback (环回)模式的Training,第二是link（链路）training。只有这两个部分的协商正确完成的前提下，才能保证测试的顺利完成。不管是loopback training 还是link training，都要求Bert具备和被测设备自动的协商功能，通过基于协议的握手和双向沟通去使被测设备进入环回模式和均衡的自适应。
如图二，支持各种协议的系统/芯片在上电后会通过与对端设备的多次协商进入不同的子状态机，在接收端容限测试的时候需要使被测芯片的状态机从Config或者Recovery状态进入loopback的子状态，这个实现需要Bert模拟一个真正的对端设备去发送符合该协议的码型系列去training 被测设备。同时Bert也要能实时的解析被测设备的协议系列以确认其是否被成功training，否则需要重新修改设置来发送training的码型序列。如图3，泰克的BSX系列误码仪最高可以支持单通道32Gbps的实时数据发送和接收，可以直接产生和接收并同时解析协议的数据包，而不像其他厂商只能在较低速的时候实现数据直接产生和接收，而高速标准则需要通过两个通道合并成单通道进行发送，并在接收端则将单通道再分解成两个通道进行接收。这样会导致高速标准的时候不能实现真正基于协议的协商。 图2：PCIe/USB3.1等协议标准的各种状态机。 |
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除了进行一致性测试以外，对于芯片的验证过程中还经常会进行问题定位，当出现误码的时候，大部分工程师会去搬一台示波器来使用示波器观察信号波形来进行抖动和眼图分析来进行调试，这时候得把信号重新连接到示波器来进行信号的捕获，而且并不容易把误码和示波器捕获的波形直接关联起来找到误码的原因。往往你旁边并没有一台高带宽示波器供你随意使用。由于泰克的BSX系列误码仪能够精确的统计误码的个数和误码出现的时间，所以能够实现精准的误码定位。这个强大的误码定位功能和抖动眼图分析功能可以供你进行系统和芯片级别的调试，下面会举一些真实用户使用Bert进行调试分析的实例来说明。
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案例一：使用误码仪Error Free interval功能来验证芯片的自适应时间。
客户在做芯片IP的选型验证，该芯片支持的速率为20.62bps,不同IP厂商会给出不同的芯片自适应时间，一般为几百微妙到几百毫秒不等，如前面所述，有一些芯片的关键参数会影响到这个自适应时间，如芯片的FFE/DFE的均衡自适应时间，CDR的锁定时间，误码判决电路的采样点的自动调节等。客户的需求是测试从芯片开始初始化那一刻直至误码率低至10^-12左右的时间。 图4：连接拓扑图 然后选择Bert scope的View里面的误码分析功能（Error analysis），选择Error free interval。点击Error free interval界面，设置,Hist的end 为500000(bit)，这个参数需要根据芯片的特性灵活调节，如果芯片的自适应时间较长，则可以适当增加，以保证整个自适应过程的误码变化情况都能够在所选的时间范围之内。这个界面的横轴是bit，可以根据信号的速率转化为绝对的时间，纵轴是误码个数。我们可以根据误码的变化从而计算出自适应的收敛时间。设置好以后点击auto center。然后点击Run。 设置好误码仪后，用命令将芯片的RX部分进行一次hot reset，这时候芯片会进行一次时钟恢复的同步，重新调节DFE，FFE，在Bertscope的Error Free interval里面就可以看到出现大量误码然后再慢慢减少到没有误码的过程。在300000bit左右就不再出现误码，表示这个时候自适应过程就已经完成。为了保证测试结果的重复性和一致性，建议将这个hot reset的过程做十次，Error free interval会自动将这十次的结果进行叠加。从测试的结果看，芯片的自适应时间约为250000X(1/20.62G)约为12.5us左右。 |
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案例二：使用误码的Strip chart的记录功能来进行长时间的误码分析。
由于客户的系统要进行长时间的(-20到+80度下)的高低温老化测试，客户要看误码的性能和温度变化的相关性，一般的误码仪只能统计温度变化过程中误码的总的个数和误码率，而无法得知在整个十几个小时里面任一时刻误码率的变化。而BSX系列误码仪则可以使用Strip chart的记录功能将整个过程中记录下来，后面可以根据需要查询任意时刻的误码率变化情况。如下图，在第10/20/30秒的时间点出现了一些突发的误码，这个如果仅仅是通过简单的误码统计是无法看到时间相关的细节的，而且其累积记录时间可以长达几十小时甚至几天。 图5：使用Strip chart功能记录整个长时间老化过程误码变化 |
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案例四：使用误码仪的眼图和抖动分析功能进行信号特性的分析。
1.客户在测试误码的同时想快捷的观察TX端输出信号的质量，确保芯片输出的信号是否满足一定的要求。2.客户想真正的测试10^12次方下的总体抖动的值，因为一般示波器的Tj都是通过测量RJ和DJ然后再通过一定的外推算法去得到10^12 次方下的抖动的，由于示波器存储深度和计算时间的限制，无法得到真正的Tj@10^12。但误码仪是可以通过连续bit的测量从而得到真正的10^12的抖动的，并且其内置的带有两个1bit的ADC在实时全速的对每个bit进行扫描和比较，所以能够快速的得到信号的眼图（如图7）。并根据每个bit的与采样点的偏差计算该bit的TIE的抖动偏移量，从而通过算法计算信号的Rj/Dj并进行抖动的进一步细分。同时由于BSX系列的误码检测输入端的带宽高达22GHz以上，所以对高速信号的眼图和抖动分析的精度非常高。 图6：Bertscope的误码检测端自带的两个1bit ADC的比较器 |
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案例五：使用误码仪的FEC emulation 功能快速模拟芯片的FEC算法。
由于现在芯片和标准的速率越来越高，为了加强容错能力，如SAS4/PCIe 4.0/5.0/25G以太网的标准都广泛使用了FEC来进行纠错，即便是牺牲了一些额外的开销，但能够很大的降低误码率，也是值得的。客户的芯片的接收端可以支持FEC的纠错功能，但要测试在不同的channel条件和不同的发送端均衡的设定下，芯片经过FEC后的误码率能降低到多少，如果将信号直接环回到芯片的输入端的话，需要不停的修改芯片的FEC的参数来进行测试，但由于其芯片每修改一次FEC的参数如FEC的symbol size, block size，content size等等都需要重新对芯片进行代码编译和下载，每次下载需要几分钟的时间，由于不同的条件都要测试，则组合数量很多，导致测试效率非常低。但是BSX系列误码仪的FEC功能能够灵活实时的调节上述各种FEC的参数，并且实时的更新经过FEC后的误码率变化情况，而完全不需要重新下载芯片的代码（如图11和图12）。大大的提高了测试和调试的效率，而且客户也做过认真的对比，误码仪对FEC后计算得到的误码率和其真实芯片经过FEC的误码率是非常匹配的。这个功能使客户之前几天的时间进行调试过程缩短到一天之内完成，作为泰克工程师的我之前也没有怎么用过这个功能，觉得它是个鸡肋，当现场看到客户的调试过程后也是感叹不已。 图9：用户的测试拓扑结构 |
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案例六:使用BSX的pattern sensitivity的功能定位误码出现的特定比特位.
在客户进行误码测试的时候，由于链路的损耗和芯片的输出特性，导致出现了误码，但客户却想知道究竟是哪一个bit位出现了误码，以定位误码出现的根源。设置Bert的输出/输入端设置为PRBS7的码型，在误码分析功能里面选择Patten Sensitivity，则可以直接观察PRBS7的127个比特的每一位所出现误码的个数，看最多误码所对应的比特位的前后特性，如下图十三，移动光标到任意一个比特上面，可以看到连续多个0而中间有一个1跳变的bit即127比特的第94比特出现误码的个数最多，达到5043598个误码。从而判断由于链路ISI的影响导致突然的跳变位出现较高的误码率。 图12：基于码型系列的误码定位 |
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