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HIOKI回收 IM3536LCR测试仪

2019-4-28 11:19:56 404

0 `HIOKI回收IM3536 HIOKI这次发售了LCR测试仪IM3536。IM3536具备4Hz~8MHz宽频率范围，实现高速、高精度测量。满足电子元件的研发和生产等多种领域的要求。二手仪器仪表回收罗先生182-1924-1623 扣扣 214450296 欢迎咨询了解 LCR测试仪IM3536的特点测量频率4Hz~8MHz，精度保证范围1mΩ和测量范围扩大以往产品（3532-50）的测量带宽为42Hz~5Mhz，而IM3536的带宽扩大到了4Hz~8MHz。因此，可以测量用于各种领域中的电子元件的特性。特别是，高频率8MHz适用于高频化的电源用电感的测量。而且，精度保证范围比起以往产品10mΩ以上，IM3536的精度保证为1mΩ以上，因此也适用于有低频化要求的电容等的测量。和以往产品相比，实现高速、高精度测量 IM3536和以往产品相比改善了测量时间和基本精度。比起以往产品的测量时间为5ms（0.005秒），IM3536是1ms（0.001秒），测量速度提高了4倍。因此，用于电子元件的产线中时，有助于提高产量。而且，相对于以往产品的基本精度（代表值）0.08%，IM3536为0.05%，因此适用于有高精度要求的电子元件。连续测量功能，1台即可完成不同条件的检查在电子元件的评估中，有时会需要对1个电子元件需要按照不同条件和项目来测量。以往产品因为测量条件的切换时间和测量时间较慢，所以这类多种条件检查会需要多台测量仪器。 IM3536的测量条件的切换和测量实现了高速化，而且IM3536具备连续测量功能（不同测量项目连续测量的功能），因此1台IM3536就可以完成以前多台测量仪器才能完成的测量。这样可以简化产线中所用自动检查机的结构，从而实现低价化。具备提高检查品质的接触检查功能检查时，发生测试探头的断线、和被测物的接触不良时，可能存在测量误差变大等影响测量值确性的现象。为了防止此类事情，标配了能够知道测试探头断线和接触不良的接触检查功能。由此有助于提高检查的品质。 ` 0 本帖子中包含更多资源您需要登录才可以下载或查看，没有帐号？注册 x
2019-4-28 11:19:56　　评论淘帖0 举报相关推荐 • 供应 HIOKI IM3536 LCR测试仪 508 • HIOKI IM3536 LCR测试仪日本日置 869 • 收购二手HIOKI日置IM3536/IM3533/LCR测试仪/电桥 430 • LCR测试仪IM3536通讯协议手册 86 • LCR测试仪IM3536的介绍手册免费下载 95 • 长期采购 HIOKI日置 IM3533 LCR测试仪 IM3533-01 304 • 美国原装二手HIOKI日置IM3535阻抗分析仪IM3536 LCR测试仪 562 • Hioki IM3570阻抗分析仪IM3536 315 • 日本HIOKI日置 IM7580阻抗分析仪IM7581 LCR测试仪 541 • IM3536 LCR电桥的功能特点及应用 3906