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该问题在这两个周之类，一直未被解决，希望ADI的专家们能给予指导，目前本人及公司内部做射频的工程师一起能想到的方法都想过了，一直不能解决，现在唯一怀疑的是配置寄存器了，不过有是锁住了的，寄存器配置也请教了公司内部数电工程师，一起检查了都觉得没什么问题，现在真心希望能得到ADI的支持，希望能给予一些好的建议或者意见。
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60user200 发表于 2018-11-2 10:33 您好，您的问题已经提交给ADI相关专家，将邀请专家尽快回答您的问题。谢谢！ |
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60user200 发表于 2018-11-2 10:33 您好！ 请问您的鉴相频率，参考频率分别是多少，还有就是您参考源相噪特性是怎样的。可通过ADIsimPLL分别对两个频点进行仿真。ADIsimPLL可从下面链接免费下载。 https://form.analog.com/Form_Pages/RFComms/ADISimPll.aspx |
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213123d 发表于 2018-11-2 11:03 鉴相频率25M，参考频率100M，参考源相噪是好的，参考源直接接的100M晶振，如果说参考源相噪差，那其他频点也应该达不到-105dBc/Hz，就只有在2.5G到2.87G相噪不好，现在发现程序上改变电荷泵电流值，当电荷泵值最小时，在@100kHz处，可以到-105dBc/Hz,但在@10k的地方只有-75dBc/Hz左右，不能达到-95dBc/Hz的要求了。试了好几个ADF4350，现象都一样，而且买的批次不一样。电路PCB基本也是参考官网demo板。所以怀疑是不是这个芯片本身在这个频段相噪就要差点，现在希望有官网电路板的能帮我做下这个实验，看在这个2.5G到2.87G频段@10k，可以到-95，@100k，可以到-105不？ |
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60user200 发表于 2018-11-2 11:09 您好！ 附件为按照您的测试条件鉴相频率25MHz，环路带宽19.2kHz，输出2.8GHz的仿真结果。该结果与实际测量是十分接近的。除此之外，数据手册中图13，图14给出的是使用评估板测量的输出2.591GHz的频谱图。 通常改善锁相环电路相噪性能的方法为： 1，在锁相环能正常工作情况下，使用尽可能高的鉴相频率 2，减小环路带宽 3，增大电荷泵电流 4，使用低噪声参考源 附件
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213123d 发表于 2018-11-2 11:15 我的电路环路带宽改为19.2k，10k处的相噪是不得行的，现在已通过不断处理电源盒调节电荷泵电流值，10k处有-94，100k处有-104，只有将就用了。 |
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