可用于任何ATE系统的模拟前端优化型DAQ系统参考设计

2018-9-27 08:57:20 1811 ATE DAQ

0 描述 The tiDA-01050 reference design aims to improve the integration, power consumption, performance, and clocking issues typically associated with automatic test equipment. This design is applicable to any ATE system but most applicable to systems requiring a large number of input channels. 主要特色 Negative rail input (NRI), rail-to-rail output (RRO) Wide output common-mode control range Low power consumption High THD, SNR and ENOB Dual supply on AFE maximizing system performance 0 Schematic/Block Diagram.pdf 2.51 MB , 下载次数: 1 物料清单.pdf 247.59 KB , 下载次数: 1 层图（或 PCB 布局）.pdf 6.98 MB , 下载次数: 1 组装图.pdf 3.77 MB , 下载次数: 1 CAD 文件.zip 2.38 MB , 下载次数: 1 光绘文件.zip 1.15 MB , 下载次数: 1
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