天基红外探测系统的杂散光分析与计算

2010-4-24 10:14:47 2020

0 【摘要】：探讨了天基红外探测系统的杂散光来源,运用黑体辐射的理论分别对其大小进行了分析和计算。分析地气杂光在探测器靶面的辐照度时,通过在仿真软件中建立模型,应用追迹光线的方法得到了地气表面对相机所张的立体角,从而求出地气杂光在探测相机靶面上的辐照度,减小了计算的复杂度。然后对探测系统的噪声进行了分析,计算了某一个型号Sofradir焦平面器件的噪声等效辐照度(NEI),通过比较发现,杂散光在探测器靶面的辐照度远大于热像仪的NEI,必须对杂散光采取抑制措施。最后对地气杂光的抑制比和光学系统的致冷温度要求进行了分析,结论为系统的设计提供了参考。【关键词】：红外探测;;杂散光;;仿真软件;;等效噪声辐照度【DOI】：CNKI:SUN:GXXB.0.2010-03-035 【正文快照】：1引言天基红外探测技术是利用目标和背景之间的温差和发射率差形成的红外辐射特性进行探测，具有识别目标能力强、观察范围广的优势。探测系统一般有扫描型和凝视型两种探测器。扫描型探测器用于对目标的捕获，凝视型探测器用于对目标的精确跟踪。通过对空间飞行目标的探测跟踪全文下载 0
2010-4-24 10:14:47　　评论淘帖0 举报相关推荐 • 什么是杂散光？软件如何帮助寻找杂散光？ 1432 • 光学系统杂散光分析 1185 • 基于STM32的红外火灾探测系统设计 23 • FRED在照明系统杂散光分析中的应用 17 • 什么是杂散光？LensCheck镜头测量系统上的杂散光测量的详细资料概述 14 • 镜头MTF、杂散光测量系统 2055 • 光学设计中的杂散光 426 • 杂散光的介绍及LensCheck镜头测量系统上的杂散光测量 10 • 干货 \| 红外探测系统中探测波段的选择对比分析 13941 • BSD盲点探测系统 9843