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jf_87446146

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工程师 FA

安徽省合肥市丨学术研究

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收藏了帖子 2024-6-13 16:08

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无损检测X-ray(2D&3D)详细内容

淘淘发烧友
管理师苏试宜特（上海）检测技术股份有限公司

X-ray(2D&3D)X-Ray是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以X-Ray形式放出。而对于样品无法以外观方式观测的位置，利用X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化 ...

来源：芯片测试与失效分析
收藏了帖子 2024-6-13 16:06

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元器件失效分析方法

Jessie唐
融创芯城

失效分析基本概念定义：对失效电子元器件进行诊断过程。1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。 2、失效分析的目的是确定失效模式和失效机理，提出纠正措施，防止这种失效模式 ...

来源：电子元器件论坛标签：元器件
收藏了帖子 2024-6-13 15:58

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常见的失效分析方法

advbj
市场探针台

失效分析是芯片测试重要环节，无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品，失效分析可以帮助降低成本，缩短周期。常见的失效分析方法有Decap，X-RAY，SAT，IV，EMMI，FIB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE等，因为失效分 ...

来源：电子元器件论坛标签：芯片
关注了版块 2024-6-13 13:53

电路设计论坛
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