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jf_92944996

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发布了文章 2023-10-30 15:25

ETB嵌入式跟踪缓存应用场景

ETB，嵌入式跟踪缓存 CoreSight ETB 是一个跟踪接收器，它可使用可配置大小的 RAM 为跟踪数据提供芯片上存储。 CoreSight ETB（Embedded Trace Buffer）是一个跟踪接收器，它可以使用可配置大小的...

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发布了文章 2023-10-30 15:15

ECT嵌入式交叉触发的工作原理

ECT，嵌入式交叉触发 CoreSight ECT 是一个控制和访问组件，支持 SoC 内的多个触发事件的交互和同步。 CoreSight ECT 是一个控制和访问组件，它支持 SoC（System on a Chip）内的多个触发事件的交...

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发布了文章 2023-10-30 14:59

ARM处理器中HTM与STM介绍

HTM，AHB 跟踪宏单元 HTM 可显示无法使用 ETM 从内核跟踪推断的总线信息：了解多层总线利用率。软件调试。例如，内存区域访问和数据访问的可见性。跟踪触发器或过滤器的总线事件检测，以及用于总线分析。 HTM 提供了有关 AHB...

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发布了文章 2023-10-30 14:53

ITM和PTM、ETM有什么关系

CoreSight ITM 块是一个软件应用程序驱动的跟踪源。支持的代码将生成软件测量跟踪（SWIT）。此外，该块还提供粗略的时间戳功能。 ITM块是一个嵌入式跟踪宏单元（ETM）架构规范中的一部分，它是一个软件应用程序驱动的跟踪源。当应...

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发布了文章 2023-10-30 14:49

PTM和ETM的关系是什么

PTM和ETM的关系 PTM和ETM都是嵌入式跟踪宏单元（ETM）架构规范中的一部分，它们之间的关系是互补的。ETM是一个通用的跟踪宏单元，它可以用于跟踪不同的信息，例如指令跟踪和数据跟踪。而PTM是ETM的一个特定实现，专门用于进行程序流...

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发布了文章 2023-10-30 14:43

PTM程序跟踪宏单元介绍

PTM，程序跟踪宏单元 PTM 是一个模块，它根据程序流程跟踪（PFT）体系结构执行实时指令流跟踪。跟踪工具使用 PTM 生成的信息重建全部或部分程序的执行情况。 PTM 是一种硬件或软件模块，它被设计为在程序执行时进行实时的指令跟踪。...

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发布了文章 2023-10-30 14:38

ETM嵌入式跟踪宏单元有哪些功能

ETM 宏单元为 ARM 微处理器提供实时指令跟踪和数据跟踪。跟踪软件工具使用 ETM 生成的信息重建全部或部分程序的执行情况。 ETM （Embedded Trace Macrocell）是一种在 ARM 微处理器中使用的硬件单元，它主...

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发布了文章 2023-10-30 14:29

CTI是什么 CTI的触发信号类型

CoreSight CTI是ARM Cortex-A系列处理器的一个调试和测试接口。它提供了一种硬件触发信号机制，用于测试处理器内部状态，并实现跟踪和调试功能。在硬件结构上，CTI接口连接到一个Cortex-A处理器的调试端口上，并与一个...

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发布了文章 2023-10-30 11:48

ATE如何测试PLL

两种方法：时域和频域测试，如下： •方法1. ATE time measurement unit （ TMU）测试。（时域，需要额外的TMU license，因此常不采用。）实施步骤：ATE 构造TMU TASK。TMU可以非常高精度地...

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发布了文章 2023-10-30 11:44

DFT如何产生PLL 测试pattern

DFT PLL向量，ATE怎么用？自动测试设备（ATE）对PLL（锁相环）进行测试时，我们首先要明白PLL在系统级芯片（SoC）中的重要性。它是SoC中关键的时钟或信号同步部件，其性能直接影响到芯片逻辑的正确运行。在测试PLL IP时，通...

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发布了文章 2023-10-30 11:39

如何解决电压测试遇到的问题

在IC的测试中，电压的测试是所有测试参数中最为常见的一种参数，尤其是模拟芯片的测试，电压测试更显常见及重要，如：LDO、LED驱动、音频功放、运放、马达驱动等很多类型的模拟芯片都含有电压参数的测试，而且都是其主要性能参数。另外，也有很多其他...

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发布了文章 2023-10-30 11:35

测试平台的建立方法

（1）DUT模型的建立 •① 164245模型：在Modelsim工具下用Verilog HDL语言［5］，建立164245模型。164245是一个双8位双向电平转换器，有4个输入控制端：1DIR，1OE，2DIR，2OE；4组8位双向端口...

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发布了文章 2023-10-30 11:23

测试向量是什么意思

测试向量及其生成测试向量（Test Vector）的一个基本定义是：测试向量是每个时钟周期应用于器件管脚的用于测试或者操作的逻辑1和逻辑0数据。这一定义听起来似乎很简单，但在真实应用中则复杂得多。因为逻辑1和逻辑0是由带定时特性和电平特...

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发布了文章 2023-10-30 11:16

ic测试是什么意思

IC测试原理 IC 测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT提供测试激励（X），通过测量DUT 输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断DUT是否符合格。图1所示为IC测试的基本原理模型。根据器件类型，IC测试可以分为数字电路测...

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发布了文章 2023-10-30 11:06

通用测试系统硬件和软件架构介绍

通用测试系统架构通用化自动测试系统（ATS）主要由图1所示的三个部分组成： •主控计算机、其中“主控计算机”中的软件主要包括操作系统、编译器、测试执行程序（TP）。 •总线仪器测控组合、 “总线仪器测控组合”中主要包括模块化测试测量仪器...

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