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    天津开发区实力技术工程有限公司
      电子元器件由静电放电引发的失效可分为突发性失效和潜在性失效两种模式。       突发性失效是指元器件受到静电放电损伤后,突然完全丧失其规定的功能,主要表现为开路、短路或参数严重漂移 ...
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