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销售助理 黑河电子(香港)有限公司
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  • PCB的失效分析服务介绍
    金鉴实验室
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  • 芯片失效分析服务简介 一般来说,集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操作中的不当等问题。 具体来说,失效分析的意义主要表现在以下几个方面: 1. 失效分析是确定芯片失效机理的必要手段; 2. 失效分析为有效的故障诊断提供了必要的信息; 3. 失效分析为设计工
    3NHC_zhixinkeji
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  • 开封前会进行外观检查、X光检查以及扫描声学显微镜检查。第二步是打开封装并进行镜检。第三步是电性分析。电性分析包括缺陷定位技术、电路分析以及微探针检测分析。第四步是物理分析。物理分析包括剥层、聚焦离子束(FIB)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)以及VC定位技术。通过上述分析得出分析结论,完成分析报告,将分析报告交给相关技术人员。
    电子设计
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  • 当晶片裸露出来后,那么,我们就要用到高倍显微镜和FIB(聚焦离子束设备),用这两种设备,查找芯片的加密位置,通过改变其线路的方法,将加密芯片变为不加密的一个状态,然后再用编程器,将芯片内部的程序读取出来。
    3NHC_zhixinkeji
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  • 一、FIB设备型号:Zeiss Auriga Compact 聚焦离子束显微镜 (FIB-SEM) 聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后,通过结合相应的气体沉积装置,纳米操纵仪,各种探测器及可控的样品台等附件成为一个集微区成像、加工、分析、操纵于一体的分析仪器。其应用范围也已经从半导体行业拓展至材料科学、生命科学和地质学等众多领域。为方便客户对材料进行深入的失效分析及研究,金鉴实验室现推出Dual Beam FIB-SEM业务,并介绍Dual Beam FIB-SEM在
    金鉴实验室
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  • No.1 引言   扫描电子显微镜的简称为扫描电镜,英文缩写为SEM 。它利用细聚焦的电子束,轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等,对样品表面或断口形貌进行观察和分析。 在失效分析中,SEM有广泛的应用场景,其在确定失效分析模式、查找失效成因方面发挥着举足轻重的作用。 No.2 工作原理 扫描电镜的焦深比透射电子显微镜大10倍,比光学显微镜大数百倍。由于图像景深大,因此扫描得出的电子像富有立体感,具有三
    新阳检测中心
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  • 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。
    姚小熊27
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  • 东旭光电将利用悬浮石墨烯技术正式涉足高端传感芯片领域,打破了国内相关领域高端产品空白的尴尬局面。
    西西
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  • 针对后期元件装配,特别是手工装配元件,一般都得出PCB的装配图,用于元件放料定位之用,这时丝印位号就显示出其必要性了。
    我快闭嘴
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