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他的文章发文章

硅光子（SiPh）器件的新型边缘耦合探头解决方案
2022-6-29 18:05

我们最近宣布了新的边缘耦合功能，这些功能增强了用于CM300xi探针台的硅光子（SiPh）解决方案，使我们能够扩展将光纤耦合到SiPh器件边缘的能力，以用于单个管芯和晶片。我们最近宣...

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OptoVue Pro—通过实时原位校准缩短数据采集时间
2022-6-29 18:02

我们最近为CM300xi探针台推出了一些革命性的新型硅光子（SiPh）探针解决方案。这些新功能之一是专有的OptoVue Pro™，可在不移除当前被测试晶圆的情况下就地进行光学定位器校准我们最近推出...

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验证互联汽车和物联网的IC封装要求
2022-6-24 18:56

随着联网汽车的日益流行，未来的成功将继续部分取决于为连接性提供动力的半导体和芯片的耐用性，并且根据它们在车辆中的位置，存在不同的验证要求随着联网汽车变得越来越主流，未来的成功将继续部分取决于为连接提供动力的半导体和芯片...

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小芯片成为主流技术的最大挑战是什么
2022-6-24 18:49

由于测试芯片的复杂性和覆盖范围的原因，单个小芯片对复合材料成品率下降的影响正在为晶圆测试带来新的性能要求。从测试的角度来看，使小芯片成为主流技术取决于确保以合理的测试成本获得“足够好的模具” 在异构集成系统中，由于单个小...

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采用先进的封装技术来测量深腐蚀沟槽
2022-6-24 18:44

由于其平行照明，WLI PL非常适合用于测量具有高深宽比的等离子切割刻蚀沟槽，因为大部分光到达了刻蚀结构的底部，因此可以测量深度。随着经典摩尔定律晶体管的优势在单片芯片上缩小，先进封装的采用正在加速。先进的封装通过高密...

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FormFactor处于先进封装测试的最前沿
2022-6-24 18:39

FormFactor处于测试新的高级程序包的最前沿，并且与业界领先者合作，在他们制定解决集成和测试范围复杂性的策略时，我们正在帮助他们应对挑战。在先进封装领域，晶圆测试变得比以往任何时候都更加重要。我们正在为当今最棘手...

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Cascade TESLA200—大批量数据处理的测试环境
2022-6-24 18:34

TESLA200 - 完整准确的大批量数据处理的测试环境 FormFactor开发了TESLA200高级晶圆功率半导体探针台系统，是一款专门为功率半导体器件研究人员，设备/测试工程师和制造经理/操作员设计的系统。 TES...

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功率半导体测试将会面临哪些挑战
2022-6-24 18:29

高电压防电弧通常，当测试晶圆上的高电压时，探针之间将存在放电（电弧），这也发生在DUT（被测器件）和相邻器件（垂直布局）或其他测试pad（横向布局）之间。此外，在高于1000 V的电压下，晶圆载物台和周围探针台之间可能...

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cascade应对超低温挑战的专业化探针台系统
2022-6-24 18:19

应对超低温挑战需要专业化的探针台系统低温测试环境首先需要一个真空腔室，以提供合适的密封和排空的环境。使用液氮或液氦或其他制冷方法的低温恒温器可将温度降至77K或更低;电阻加热器，低温等级温度传感器和温度控制器完成温度调...

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Cascade高级精细的工具简化了超低温测试
2022-6-24 18:15

高级精细的工具简化了超低温测试低温工具软件是一种Velox应用程序，通过控制真空泵和冷却液参数，可在极端环境中进行精确的晶圆上测量。它是为低温探针台系统开发的，可以测试冷却红外传感器和需要低温的尖端技术。它支持辅助功能...

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Cascade应对极端环境有哪些专业探针
2022-6-24 18:13

极端环境需要专业探针在芯片测试始终还是一种测量。凭借一系列专为超低温测试而优化的高性能探针，FormFactor 将其作为分析探针技术领先者的声望扩展到了低温测试环境。这些产品使得测试仪器能够在广泛的应用中传送精确的信...

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超低温电路将有机会给计算领域带来变革
2022-6-24 18:01

近年来，在低温（低于约123K，或-150℃）环境下，使用晶圆上超导材料，其他新型材料和传统半导体已显著增加。创新的新型传感器利用极低温度下的独特材料特性来检测各种物理现象，如红外辐射，磁场，X射线等，适用于医疗保健，国...

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1/f产品特性及优势的介绍
2022-6-21 14:59

将多种多样的测量设备与探针台进行整合是相当复杂的，这是因为在各种不同组成部分之间存在诸多的相互影响因素。在片的 1/f 噪声测量是任何特性分析和建模测试系统至关重要的组成部分。由于灵敏度要求的原因，它们会很容易遭受外部干...

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电路特性分析测试的简单介绍
2022-6-21 14:58

用于诸如放大器、混频器和滤波器等电路的晶圆级测量的测试系统的规范化会颇具挑战性，特别是当单个晶圆可容纳多种电路类型时，为验证这些结构所需进行的测试是广泛且复杂的，包括 S 参数、DC 参数、噪声指数、增益压缩和互调失真。...

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Cascade低温探针台可进行直流测试和射频测试
2022-6-21 14:57

物理科学的不断进步正在创造新一代的半导体和磁性材料，以满足人们对更高速度、更大容量、更低功耗和更高性能的需求。研究的初期阶段开始于将样品材料置于极低的低温条件下（在绝对零度的几度之内)，测量基本的电迁移特性。然而在进行这...

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