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自主射频测量助手：能够在家进行探测，自主提供RF
2022-7-6 14:26

当前的在家办公，在家工作的情况以前所未有的方式挑战着半导体行业。社会疏远和远程工作使可能难以执行的操作程序到位。在上一篇文章中，我们分享了虚拟演示中的信息旨在帮助您无论身在何处都可以保持半导体测量的运行。在这篇文章中，我...

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低温晶圆测试正在持续升温
2022-7-5 10:54

近年来，在低温（低于123K或-150°C）下，晶圆上超导材料，其他新型材料和传统半导体的使用迅速增长。具有创造力的新型传感器利用了非常低的温度下独特的材料特性，可以检测各种物理现象，例如红外辐射，磁场，X射线...

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晶圆和芯片级应用的边缘耦合效率
2022-7-5 10:50

继最近发布一些突破性新硅光子（SiPh）探针的发展对于CM300xi探针台，我们想向后盘旋并深入了解一些细节。我们之前展示了一些OptoVue Pro™的亮点，可以在不移除当前被测试晶圆的情况下原位执行光学定位器校准，从...

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在自动CM300xi探针台上进行手动调整
2022-7-5 10:44

FormFactor的强大功能自动化功能，可在多个温度下进行无人值守的测试通过将操作员的干预减少到最低程度，有助于提高数据的准确性和最小化测试成本。但是，在安装全新的测量装置或更换设备时，即使是最高程度的自动化也要依...

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使用测试单元电源管理消除接地回路感应噪声
2022-7-5 10:33

测试单元电源管理不仅消除了测量测试单元中所有接地回路感应噪声，而且占地面积小，场发射率低，可为整个系统、探针台和仪器提供全面管理和过滤的交流电源。自从CM300xi-ULN探针台推出以来，我们已在博...

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CM300xi-ULN探针台—在片噪声测试新金标准
2022-7-5 10:28

采用PureLine 3技术的新型CM300xi-ULN可消除97%以前探针台中的环境噪声，并从根本上改变7纳米以下前沿技术节点的实验室闪烁噪声测量我们推出一种300mm晶圆探针台CM300xi-ULN...

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SUMMIT200半自动晶圆探针系统可缩短测量时间
2022-6-29 18:23

解决电路表征问题，以加快上市时间半导体测试工程师可以花费大量时间来集成和排除系统故障。整合的复杂性可能成为以及时，有利可图的方式将产品推向市场的巨大障碍。在某些情况下，必须配置和集成来自多个供应商的硬件...

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自主射频测量助手有助于提高精度和生产率
2022-6-29 18:22

自主的RF测量助手–通过在多个温度下进行真正的免提RF校准和测量，提高准确性和上市时间自主射频测量助手可在多个温度范围内实现完全自主，免提的射频校准和测量。它具有独特的Contact Intellige...

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FormFactor的RFgenius晶圆上S参数测量套件
2022-6-29 18:20

推出RFgenius晶圆上S参数测量套件 FormFactor的RFgenius晶圆上S参数测量套件包括以实惠的价格实现精确测量所需的所有关键组件-从探测站到网络分析仪，应有尽有。所有经过验证并证明可以提...

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CM300xi探针系统提供了测量精度和可靠性
2022-6-29 18:17

CM300xi探针系统–提供测量精度和可靠性 CM300xi探针系统在完全模块化的解决方案中提供了测量精度和可靠性-无论是在一个半自动系统中进行IV / CV，RTN和RF测量，还是可以处理200 mm任...

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cascade 5G设备校准介绍
2022-6-29 18:16

使用WinCal软件，Infinity探头和校准标准实现5G设备校准使用Infinity 探针时，FormFactor的WinCal软件可提供完整的RF校准和性能的验证。WinCal集成各种校准方法，包括SOLT，...

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cascade屏蔽罩的简单介绍
2022-6-29 18:14

ShieldEnclosure™ 概述屏蔽罩专为获得持久的稳定性而设计，并确定了合适的尺寸以容纳配备了各种附件（包括热载物台、激光切割机、TV 和发射式相机）的分析探针台。 EMI 屏蔽版本可以提供所有灵敏测量的避...

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cascade eVue IV数字显微镜的介绍
2022-6-29 18:12

eVue显微镜概述体验数字成像的未来 eVue IV 数字成像系统集非凡的光学性能与更高的生产率于一身。它的革命性多透镜设计在光学分辨率、数字变焦和实时运动视频之间提供了理想的平衡。该系统能以前所未有的速度和智...

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cascade常温和高低温载物台的详细说明
2022-6-29 18:09

载物台和温控系统所有FormFactor探针台集成专门开发的ATT常温载物台或高可靠性的高低温载物台。根据您的应用、温度和性能要求，我们提供温度范围从-60℃到300℃的多种温控系统，也提供市场上功能最强大，性能最快，...

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SiPh解决方案启用和优化硅光子耦合
2022-6-29 18:07

硅光子学设备的测量需要光学以及高速数字功能。我们集成的SiPh解决方案允许对位于晶片上方的光纤进行亚微米处理，从而自动优化光纤耦合位置。硅光子学（SiPh）技术正在发现数据中心应用的早期应用，其中可能会出现汽车LIDA...

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