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集成电路为什么要做失效分析？失效分析流程？ 2023-09-06 10:28

失效分析(FA)是根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。

wnyO_bdtdsj

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关于CMOS芯片上的开路和短路测试 2019-02-01 06:36

在深入研究开路和短路测试的技术细节之前，我们必须首先了解其与半导体验证的相关性。半导体验证通常分为结构和功能两部分。结构测试可确保芯片正确构建。功能测试确定芯片是否符合设计规范并在最终环境中按预期执行。打开和短路测试检查半导体芯片的保护二极管电路中的故障。因此，它是一种结构测试。

西西

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