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  • 接触孔工艺是指在 ILD 介质层上形成很多细小的垂直通孔,它是器件与第一层金属层的连接通道。通孔的填充材料是金属钨(W),接触孔材料不能用Cu,因为 Cu 很容易在氧化硅和衬底硅中扩散,Cu扩散会造成器件短路。因为淀积钨...
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  • IMD1工艺是指在第一层金属之间的介质隔离材料。IMD1的材料是 ULK (Ultra Low K)SiCOH材料。...
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  • 金属层1工艺是指形成第一层金属互连线,第一层金属互连线的目的是实现把不同区域的接触孔连起来,以及把不同区域的通孔1连起来。第一金属层是大马士革的铜结构,先在介质层上挖沟槽,再利用电镀(Electro Chemical P...
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  • ILD工艺的制造流程

    2024-11-12 11:30
    ILD 工艺是指在器件与第一层金属之间形成的介质材料,形成电性隔离。ILD介质层可以有效地隔离金属互连线与器件,降低金属与衬底之间的寄生电容,改善金属横跨不同的区域而形成寄生的场效应晶体管。ILD 的介质材料是氧化硅。...
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  • Salicide 工艺是指在没有氧化物覆盖的衬底硅和多晶硅上形成金属硅化物,从而得到低阻的有源区和多晶硅。...
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  • 与亚微米工艺类似,源漏离子注入工艺是指形成器件的源漏有源区重掺杂的工艺,降低器件有源区的串联电阻,提高器件的速度。同时源漏离子注入也会形成n型和p型阱接触的有源区,或者n型和p型有源区电阻,以及n型和p型多晶硅电阻。...
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  • 侧墙工艺是什么意思

    2024-11-9 10:02
    与亚微米工艺类似,侧墙工艺是指形成环绕多晶硅的氧化介质层,从而保护LDD 结构,防止重掺杂的源漏离子注入到LDD结构的扩展区。侧墙是由两个主要工艺步骤形成,首先淀积 ONO 结构,再利用各向异性干法刻蚀去除表面的 ONO...
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  • 与亚微米工艺类似,多晶硅栅工艺是指形成 MOS器件的多晶硅栅极,栅极的作用是控制器件的关闭或者导通。淀积的多晶硅是未掺杂的,它是通过后续的源漏离子注入进行掺杂,PMOS 的栅是p型掺杂,NMOS 的栅是n型掺杂。...
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  • 与亚微米工艺类似,栅氧化层工艺是通过热氧化形成高质量的栅氧化层,它的热稳定性和界面态都非常好。...
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  • 双阱工艺的制造过程

    2024-11-4 15:31
    与亚微米工艺类似,双阱工艺是指形成NW和PW的工艺,NMOS 是制造在PW里的,PMOS是制造在NW里的。它的目的是形成PN 结隔离,使器件之间形成电性隔离,优化晶体管的电学特性。...
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  • STI 隔离工艺是指利用氧化硅填充沟槽,在器件有源区之间嵌入很厚的氧化物,从而形成器件之间的隔离。利用STI 隔离工艺可以改善寄生场效应晶体管和闩锁效应。...
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  • 有源区工艺是指通过刻蚀去掉非有源区的区域的硅衬底,而保留器件的有源区。...
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  • 集成电路的可靠性与内部半导体器件表面的性质有密切的关系,目前大部分的集成电路采用塑料封装而非陶瓷封装,而塑料并不能很好地阻挡湿气和可移动离子。为了避免外界环境的杂质扩散进入集成电路内部对器件产生影响,必须在芯片制造的过程...
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  • 顶层金属工艺是指形成最后一层金属互连线,顶层金属互连线的目的是实现把第二层金属连接起来。顶层金属需要作为电源走线,连接很长的距离,需要比较低的电阻,需要很大的宽度以支持很大的电流。顶层金属层也是三文治结构。...
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  • IMD2工艺是什么意思

    2024-10-25 14:49
    IMD2 工艺与 IMD1工艺类似。IMD2 工艺是指在第二层金属与第三层金属之间形成的介质材料,形成电性隔离。...
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