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高级工程师 西南科技大学
四川省 成都市 学术研究/学生
  • 1 读入没有插入scan的网表 2 使用Design compiler 插入scan chain和OCC (on chipclocking)模块,同时插入mux, fix DRC 3 使用Testcompress 实现EDT压缩scan chain 4 使用Testcompress 产生测试DC/ACpattern,同时产生测试验证的Testbench
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