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  • 发布了文章 6 天前
    电容器漏电流测试是评估电容器性能的重要手段之一,它可以帮助我们了解电容器在实际应用中的可靠性和安全性。 1. 电容器漏电流测试的目的 电容器在电路中起着储能、滤波、耦合等作用。然而,电容器并非理想的绝缘体,其内部存在一定的电阻,导致电流在电...
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  • 发布了文章 6 天前
    电容器漏电流是指在电容器内部或外部由于各种原因导致的电流泄漏现象。这种现象可能会影响电容器的性能和使用寿命,甚至可能导致安全问题。 电容器漏电流产生原因 1. 材料缺陷 电容器的漏电流可能由材料缺陷引起,这些缺陷可能包括: 1.1 绝缘材料...
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  • 发布了文章 6 天前
    二氧化硅薄膜实现增透的原因主要涉及以下几个方面: 1. 折射率匹配 折射率特性 :二氧化硅(SiO₂)的折射率相对较低,这使得它能够作为一层有效的增透膜(或称为减反射膜)。当光线从一种介质进入另一种介质时,会在界面上发生反射和折射。如果增透...
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  • 发布了文章 6 天前
    SiO₂薄膜在集成电路中扮演着至关重要的角色,其作用主要包括以下几个方面: 绝缘层 :SiO₂薄膜作为良好的绝缘材料,被广泛应用于集成电路中作为绝缘层。它能够有效地隔离金属互连线和晶体管等器件,防止电流泄漏和短路,从而保护电路的正常运行。 ...
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  • 发布了文章 6 天前
    SiO₂薄膜的厚度量测原理主要基于光的干涉现象。具体来说,当单色光垂直照射到SiO₂薄膜表面时,光波会在薄膜表面以及薄膜与基底的界面处发生反射。这两束反射光在返回的过程中会发生干涉,即相互叠加,产生干涉条纹。干涉条纹的形成取决于两束反射光的...
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  • 发布了文章 6 天前
    1. 引言 镀膜技术是一种在基材表面形成薄膜的技术,广泛应用于光学、电子、机械、建筑等领域。二氧化硅作为一种常见的无机材料,因其良好的光学性能、化学稳定性和机械强度,在镀膜技术中得到了广泛应用。 2. 二氧化硅的基本性质 二氧化硅是一种无色...
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  • 发布了文章 6 天前
    SiO₂膜层镀膜过程中出现的膜裂问题,可以通过多种方法来解决。以下是一些主要的解决策略: 1. 优化镀膜工艺 蒸发速度控制 :蒸发速度的设置对膜层厚度有直接的影响,进而影响膜层的应力和均匀性。需要根据材料的熔点和熔液粘度等因素,通过实验确定...
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  • 发布了文章 6 天前
    万用表是一种多功能的电子测量工具,可以用来测量电压、电流、电阻等多种参数。在电子维修和检测中,万用表是必不可少的工具之一。其中,判断电容器的正负极是电子维修中常见的问题。 一、电容器的基本知识 电容器是一种能够储存电能的电子元件,其工作原理...
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  • 发布了文章 6 天前
    1. 万用表的基本知识 万用表是一种多功能的电子测量工具,可以用来测量电压、电流、电阻等。在判断火线和零线时,我们主要使用它的电压测量功能。 2. 准备工具 万用表 :确保万用表是好的,并且已经校准。 安全工具 :如绝缘手套和安全眼镜。 测...
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  • 发布了文章 6 天前
    使用万用表检测电机是否烧坏,可以按照以下步骤进行: 一、准备工作 确保安全 :在进行任何电气测试之前,确保断开电源并使用绝缘手套和绝缘工具进行操作,以确保个人安全。 准备工具 :准备一台功能正常的万用表,并确保其电池电量充足。 二、判断电机...
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  • 发布了文章 6 天前
    万用表是一种多功能的电子测量工具,可以用来测量电压、电流、电阻等多种电气参数。在查找漏电问题时,万用表可以发挥重要作用。以下是使用万用表查找漏电步骤和原理: 1. 准备工作 万用表 :确保万用表功能正常,电池电量充足。 绝缘手套 :操作时确...
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  • 发布了文章 6 天前
    万用表是一种多功能的测量工具,可以测量电压、电流、电阻等多种电气参数。在测量380伏电压时,需要使用万用表的交流电压(ACV)测量功能。以下是步骤和注意事项: 准备工作 : 确保万用表的电池充足,以保证测量的准确性。 检查万用表的表笔是否完...
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  • 发布了文章 6 天前
    电容器安装方式的集合和分散存在明显的区别,主要体现在安装位置、应用场景、优缺点等方面。 一、安装位置 集合式安装 :多个电容器直接安装在变电站的同一位置上,形成了一个电容器组件。常见的有死角式和中心式,其中死角式的集合式电容器通常安装在变电...
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  • 发布了文章 6 天前
    折叠共源共栅放大器(Folded Cascode Amplifier)是一种在模拟集成电路设计中常用的放大器结构,它结合了共源(Common Source)和共栅(Common Gate)放大器的优点,以提高增益、稳定性和频率响应。 优点:...
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  • 发布了文章 6 天前
    共源共栅放大器(Cascode amplifier)是一种在模拟电路设计中常用的放大器结构,它结合了共源(Common Source,CS)和共栅(Common Gate,CG)两种放大器的优点。这种结构通常用于提高放大器的性能,尤其是在高...
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