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duke_chen

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收藏了帖子 2021-11-15 11:28

488

IC测试原理——芯片测试原理

wangka
强大的公司

芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片测试的基本原理; 第二章讨论了怎么把这些基本原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上；本文 ...

来源：芯片测试与失效分析标签：测试存储器
收藏了帖子 2021-11-15 11:28

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芯片IC可靠性测试、静电测试、失效分析

李绍政
项目经理广州广电计量检测股份有限公司

芯片IC可靠性测试、静电测试、失效分析芯片可靠性验证 ( RA)芯片级预处理(PC) & MSL试验、J-STD-020 & JESD22-A113 ；高温存储试验(HTSL), JESD22-A103 ；温度循环试验(TC), JESD22-A104 ；温湿度试验(TH / THB), J ...

来源：电子元器件论坛标签：芯片

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