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市场专员武汉普赛斯仪表有限公司

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发布了文章 2024-10-30 14:42

SMU数字源表连接探针台示意图及注意事项

数字源表SMU与探针台组合用于半导体测试，连接需考虑线缆类型和探针选择。测试时需注意探针台接地、连接线接地、关闭光源，小电流测试加屏蔽罩，异面电极材料连接需注意Chuck盘平整度。...

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发布了文章 2024-7-23 15:43

功率半导体器件静态特性测试挑战及应对测试方案

PMST系列功率器件静态参数测试系统是武汉普赛斯正向设计，精益打造的高精密电压/电流测试分析系统，是一致能够提供IV，CV、跨导等丰富功能的综合测试系统，具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势，旨在全面满足从基础功率二极管、...

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发布了文章 2024-5-13 15:20

SMU数字源表测试IC芯片电性能方案

芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺陷、验证器件是否符合设计目标、分离器件好坏的过程。其中直流参数测试是检验芯片电性能的重要手段之一，常...

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发布了文章 2024-4-1 11:19

数字源表四探针法测试水凝胶电导率

水凝胶电导率测试常用四探针法进行测试，优势在于分离电流和电压电极，消除布线及探针接触电阻的阻抗影响。...

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发布了文章 2024-3-15 14:09

如何用数字源表简化apd管的暗电流测试？

在APD的光电特性中，暗电流是一个重要的参数。暗电流是指在没有光照射的情况下，APD中由于热激发等原因导致的电子漂移和电子-空穴对产生而产生的电流，暗电流测试的准确性对于评估APD的性能和稳定性非常重要...

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发布了文章 2024-3-13 15:37

如何用SMU数字源表简化晶体管的iv性能

晶体管特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常晶体管特性参数测试需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，还占...

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发布了文章 2024-3-5 17:22

SMU数字源表IV扫描测试纳米材料电性能方案

纳米材料及器件作为战略性新兴产业和高新技术产业，是促进产业转型升级和高质量发展的重要支柱之一。普赛斯数字源表具有测试精度高、微弱信号检测能力强的特点，可根据用户测试需求配置高效率、高精度、高性价比的纳米材料测试方案，广泛应用在纳米材料、纳米...

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关注了版块 2022-11-21 15:28

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