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市场专员 武汉普赛斯仪表有限公司
湖北省 武汉市 市场及销售
  • 发布了文章 2024-10-30 14:42
    数字源表SMU与探针台组合用于半导体测试,连接需考虑线缆类型和探针选择。测试时需注意探针台接地、连接线接地、关闭光源,小电流测试加屏蔽罩,异面电极材料连接需注意Chuck盘平整度。...
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  • 发布了文章 2024-7-23 15:43
    PMST系列功率器件静态参数测试系统是武汉普赛斯正向设计,精益打造的高精密电压/电流测试分析系统,是一致能够提供IV,CV、跨导等丰富功能的综合测试系统,具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势,旨在全面满足从基础功率二极管、...
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  • 发布了文章 2024-5-13 15:20
    芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤,是使用特定仪器,通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测,区别缺陷、验证器件是否符合设计目标、分离器件好坏的过程。其中直流参数测试是检验芯片电性能的重要手段之一,常...
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  • 发布了文章 2024-4-1 11:19
    水凝胶电导率测试常用四探针法进行测试,优势在于分离电流和电压电极,消除布线及探针接触电阻的阻抗影响。...
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  • 发布了文章 2024-3-15 14:09
    在APD的光电特性中,暗电流是一个重要的参数。暗电流是指在没有光照射的情况下,APD中由于热激发等原因导致的电子漂移和电子-空穴对产生而产生的电流,暗电流测试的准确性对于评估APD的性能和稳定性非常重要...
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  • 发布了文章 2024-3-13 15:37
    晶体管特性参数测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应;通常晶体管特性参数测试需要几台仪器完成,如数字表、电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析,过程既复杂又耗时,还占...
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  • 发布了文章 2024-3-5 17:22
    纳米材料及器件作为战略性新兴产业和高新技术产业,是促进产业转型升级和高质量发展的重要支柱之一。普赛斯数字源表具有测试精度高、微弱信号检测能力强的特点,可根据用户测试需求配置高效率、高精度、高性价比的纳米材料测试方案,广泛应用在纳米材料、纳米...
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  • 关注了版块 2022-11-21 15:28

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