发 帖  
经验: 积分:380
市场 探针台
北京市 海淀区 测试测量
  • 发布了文章 2024-7-8 16:11
    DECAP:即开封,业内也称开盖,开帽。是指将完整封装的IC做局部腐蚀,使得IC可以暴露出来 ,同时保持芯片功能的完整无损,为下一步芯片失效分析实验做准备,方便观察或做其他测试。通过芯片开封,我们可以更为直观的观察到芯片内部结构,从而结合O...
    0
    765次阅读
    0条评论
  • 关注了版块 2022-10-8 13:34

    电路设计论坛

    232579 人关注
ta 的专栏
关闭

站长推荐 上一条 /6 下一条

返回顶部