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    市场 探针台
       1 、C-SAM(超声波扫描显微镜),无损检查:1.材料内部的晶格结构,杂质颗粒.夹杂物.沉淀物.2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙等. 德国  2 、X-Ray(这两者是芯片发生失效后首先使用的非 ...
    来源:电子元器件论坛 标签: 芯片测试
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