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射频开关测试方案介绍 2018-09-28 09:30

芯片量产测试解决方案可基于NI半导体测试系统（STS），STS在完全封闭的测试头里面继承了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具。它采用“集成到测试头”的设计，将生产测试装置的主要组件集成在一起，包括系统控制器；直流、交流和射频仪器；待测设备连接以及分选机(Handler)/探针台(Prober)对接机制。

电子设计

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