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上海迪博自控技术有限公司
上海市 设计开发工程
  • 回答了问题 2015-4-3 11:12

    微处理器退化指标

    ncepu
    集成电路的老化过程,实际上是在强环境温度应力下,通过对其施加电应力模拟其正常工作,使故障尽早出现。老化试验的目的是保证产品的使用可靠性和评估产品的质量与可靠性水平。集成电路的老化试验退化模型服从Arrhenius ...
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