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刘高

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飞思卡尔KL25 16位ADC最高转换率代码效率测试及采样测试

一,     KL25 16ADC最高转换率基本知识
  要将16ADC的转换率配置为最高,首先需要选择最高的ADC模块转换时钟频率,16ADC模块转换时钟范围可以在KL25datasheet中查看到:
1.jpg
                                        图1
如果实际的Bus时钟配置为24Mhz,那么ADC转换时钟频率fADCK要达到最高,就需要bus时钟二分频,即ADCx_CFG1[ADICLK]=(0b)01
         从用户手册中可知,ADC的转换时间公式为:
   Conversiontime=SFCAdder+AverageNum*(BCT+LSTAdder+HSCAdder).
其中SFCAdder为单次或者连续采样的第一次转换时间,具体的时间可以查看如下表格:
2.jpg
                                             图2
AverageNum即平均数因子,由SC3[AVGE]SC3[AVGS]寄存器配置决定。可以通过如下表格查看具体况:
3.jpg
                                      图3
BCT,基本转换时间,这个和选择的ADC转换位数以及单端还是差分有关,具体可以查看如下表格:
4.jpg
                                      图4
LSTAdder,即长采样时间,具体可以查看如下表格:
5.jpg
                                         图5
HSCAdder,即高速转换时间,具体可以查看如下表格:
6.jpg
                                          图6
如果想配置ADC16位单端的最高采样频率,则可以做如下配置:
116位单端模式,bus时钟24Mhz作为输入源
2)输入时钟二分频作为ADC的转换时钟频率fadck.
3)长采样时间禁止
4)高速采样使能
5)连续采样,平均因子选择为1.

通过如上的设置可以知道,首次单端连续采样的时间=5 ADCK cycles + 5 bus clock cycles+25 ADCK cycles +2 ADCK cycles =2.875us其余的连续采样时间=25 ADCK cycles +2 ADCK cycles=2.25us。则可以知道,以后的连续采样频率可以最高可以高达444.44khz

下面讲一下乃奎斯特采样定理:在进行模拟/数字信号的转换过程中,当采样频率大于信号中最高频率的2倍时,采样之后的数字信号完整地保留了原始信号中的信息,一般实际应用中保证采样频率为信号最高频率的5~10倍;

所以可以知道,实际应用中,我们能够达到的信号采样频率可以高达(44Khz~88khz)。当然,随着一个周期中采样点的减少,波形肯定会变的不是很好。

二,     KL25 16ADC最高转换率软件配置
本文通过使用CWPE里的Init_ADC模块配置,具体配置情况如下:
7.jpg
                                         图7
可以看到,和计算的结果一样,16ADC的连续转换时间可以达到2.25us,即转换频率可以到444.44Khz,除了第一次转换之外。另外,ADC的引脚选择的是ADC0_SE8/TSI0_CH0/PTB0/LLWU_P5/I2C0_SCL/TPM1_CH0

然后在ADC的转换完成中断中加上如下代码:
void ADC0_Isr(void)
{
       if (( ADC0_SC1A & ADC_SC1_COCO_MASK ) == ADC_SC1_COCO_MASK)
        {  
              if(cnt<200) envia_dados[cnt++] = ADC0_RA;
              else ADC0_SC1A &= 0xbf;
        }
}
如果ADC0转换完成,则取值放到数组envia_dados中,一共取200个点,取完则关闭ADC中断。

三,     ADC中断中代码效率测试
                通过systick测试取值代码时间,测试代码如下:
                cnt=1;
                     systick_init();      
                     cnt_start_value = SYST_CVR;

                     if(cnt<200) envia_dados[cnt++] = ADC0_RA;
                     else ADC0_SC1A &= 0xbf;

                     cnt_end_value = SYST_CVR;
                     systick_disable();
                     overhead = cnt_start_value - cnt_end_value-overhead;
                     printf("systick start value: 0x%xnr", cnt_start_value);
                     printf("systick end value: 0x%xnr", cnt_end_value);
                     printf("systick current value read overhead: 0x%xnr", overhead);

其中overhead是连续两次读SYST_CVR;所花费的systick值,测出来是7。

打印出的结果如下:
systick start value: 0xfffff3
systick end value: 0xffffc2
systick current value read overhead: 0x2a
则可知,读取的代码执行需要0x2a=42, 则一共花费的时间=42/48Mhz=0.875us,在一次ADC转换时间2.25us之间,所以不会影响ADC的采样。

四,     ADC 16位实际采样结果测试
         使用信号发生器分别产生20Khz50khz80khz,然后将ADC配置为最大转换率,分别测试20Khz50Khz 80Khz得到的ADC结果,通过串口打印出来之后,再将点画成图,看波形是否失真。一共存储200ADC值,即可以存储大概450us的波形。下面分别展示在20Khz50khz80khz下的测试结果。

120Khz
测试原波形:                                                    测试ADC转换后的波形:
   8.jpg
9.jpg
8 9
可见正弦波能够很清楚的回显出来,而且非常光滑。转换后的波形的横坐标是取的点号,一共200个点,纵坐标为ADC的采样值,最高值对应2.5V

250khz
测试原波形:
10.jpg                                     
10
测试ADC转换后的波形:
11.jpg
11
可见波形没有20K的时候光滑,但是波形还是能显示出来。

380khz
测试原波形:   
12.jpg                                                 
12
测试ADC转换后的波形:
13.jpg
13
可见,测试之后的波形光滑度已经很低,这时候,ADC转换率大概是被采波形的5倍,随着采样倍数的减小,波形光滑度降低,但是基本还是能复现原波形。

五,     附件
给出了测试代码,感兴趣大家可以自行查看测试。
KL25_ADC.rar (320.72 KB)
(下载次数: 70, 2015-2-6 15:11 上传)


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