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xianuser2012

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NVMe高速传输之摆脱XDMA设计31: 寄存器功能验证与分析1

在待测设计中, 系统控制模块中的寄存器通过 AXI4-Lite 接口访问, 该接口与
axi4_lite_agent 对应, 因此可以直接在测试用例中实现寄存器的读写操作。 对寄存器
的测试需要考虑到寄存器的初始值、 读写操作测试、 边界值测试、 功能测试等。
(1) 初始值测试结果
全局计数器寄存器(global_cnt) 测试步骤 1、 2 对应波形如图 1所示, 在任意
时刻复位有效时, 寄存器值回到初始值 0, 仿真行为符合设计。
NVM\'eNVMe摆脱XDMA33寄存器复位1.png
图 1 寄存器复位测试仿真波形图

(2) 只读属性测试结果
测试步骤 3 对应波形如图 2所示, 在随机延时后首先读取寄存器值为 6049,
然后分别向寄存器低 32 位地址和高 32 位地址写入随机数据, 由于寄存器为只读寄存
器, 因此寄存器的值并不会收到影响, 在图中可以看到寄存器值不受写入数值影响,
仿真行为符合设计预期.
NVM\'eNVMe摆脱XDMA33寄存器复位2.png
图2 寄存器属性测试仿真波形图
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