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STM8S005K6T6芯片内部时钟空间辐射倍频尖刺干扰怎么解决?

使用STM8S005K6T6芯片,时钟配置为内部高速RC,芯片电源加0.1uf和1nf滤波电容,测试空间辐射,在200MHz附近出现内部时钟倍频尖刺导致实验无法通过,有什么好的整改方案?请大神指点

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